Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9090918 à vendre en France
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ID: 9090918
Style Vintage: 2004
Prober
CPU Type: VIP3A
Single cassette / wide loader type
Nickel hot and cold chuck top, 12"
Temperature controller
WAPP
SACC
Input power: AC 200 V
Temperature accuracy:
± 0.5°C (+Temperature)
± 1.0°C (-Temperature)
Temperature resolution: 0.1°C
Technology: Heater / cooler air type
Chuck:
Temperature up / down: -40ºC ⇔ +150ºC
Chiller:
Temp setting (0ºC - 20ºC)
Stand by: Case by chuck temp +35ºC upper
Dew point meter:
Reading: -80ºC to +20ºC
Purge air:
(2) Solenoids: On / Off
Wafer testing solution: -40ºC - +150ºC
Options:
Chiller: CT-50A Air cooling system (-40º ~ 150º)
Air input: 25 SCFM at 80 ~ 125 PSI
Operating range: -40°C ~ 200°C
Temperature stability: ± 0.1°C
AC 220 V / 60 Hz / 20 A
Interface: RS-232C, IEEE-488
2004 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn + Prober est un prober complet conçu pour effectuer des essais et des inspections avancées de plaquettes semi-conductrices. C'est un outil polyvalent qui peut être utilisé pour une grande variété de tests et d'inspection de plaquettes semi-conductrices, de l'imagerie de plaquettes à l'imagerie 3D de matrices de silicium. Il dispose d'un système de vision chromatique et autofocus haute performance avec un grand champ de vision, qui fournit des résolutions d'imagerie précises, un balayage d'inspection rapide et des opérations de focalisation automatique précises. Le prober dispose également d'un système laser à force rapide (FFL) multi-points, qui permet une exploration 3D rapide et précise de la structure et des composants de la plaquette. TEL P12XLN + prend également en charge une vaste bibliothèque de suites logicielles de test et d'analyse de plaquettes, ainsi qu'une gamme d'outils de mesure thermique. TOKYO ELECTRON P 12 XLN + est idéal pour sonder des plaquettes avec des transistors embarqués, des inductances, des contacts métalliques et d'autres structures. Le prober peut détecter et mesurer les défauts tels que les fissures, les raccourcis, la contamination des particules et les défauts de sous-couche. Il est également capable de mesurer avec précision les petites tailles d'entrefer, comme les tailles d'entrefer inter-couches, les tailles d'entrefer via le silicium (TSV) et les tailles d'entrefer des couches de passivation. P 12 XLN + est également livré avec une large gamme d'outils de métrologie et d'analyse, permettant aux utilisateurs de caractériser les caractéristiques et les paramètres dans leurs wafers et composants. Le prober est conçu avec une plate-forme robuste et fiable, fournissant un environnement stable, répétable et précis pour une large gamme de plaquettes, des petites puces de taille matricielle, aux grandes plaquettes jusqu'à 12 pouces. Le faible niveau de bruit du prober permet également de réaliser l'imagerie spectroscopique avec un minimum d'interférences. Avec son ensemble d'outils complet et son grand champ de vision, TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XLN + prober est l'outil idéal pour des tâches avancées de sondes de plaquettes à haut rendement.
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