Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #9102060 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn prober est un microscope électronique analytique haut de gamme (AEM) conçu pour l'essai de plaquettes semi-conductrices et la métrologie. Il dispose d'un équipement d'asservissement numérique à quatre axes qui fournit un mouvement précis et répétable avec de très faibles niveaux de distorsion thermique pour une précision d'échantillonnage maximale. Il est doté d'un design grand espace ouvert qui supporte à la fois des plaquettes de taille standard et ultra-grandes. Il intègre un appareil photo numérique haute résolution pour l'imagerie de levés extensifs et des capacités de comptage automatisé des particules avancées. TEL P 12 XLN prober est équipé d'un grand étage X-Y-Z à champ lumineux avec une grande capacité de charge, ainsi que d'un axe Z étendu pour accueillir une large gamme d'échantillons. Il dispose d'un puissant microscope électronique à balayage vertical (VSEM) avec un temps de décantation court, qui offre une haute résolution d'image et un débit élevé. Ce prober dispose également du système breveté TEL Beam Optics Control (BOC), qui offre une stabilité de focalisation exceptionnelle et des effets d'aberration sphérique minimisés. De plus, TOKYO ELECTRON P-12 XLN dispose d'une unité de nanofocalisation unique et d'un mandrin de centrage automatique à deux étages. La machine à nanofocaliser permet un positionnement ultra précis du faisceau d'électrons et une imagerie à très petite surface, tandis que la fonction d'auto-centrage permet un alignement rapide et précis pour des temps de balayage rapides. Le prober est conçu pour minimiser les vibrations, améliorer la stabilité de l'image et assurer un échantillonnage très précis dans une large gamme d'échantillons. TEL P-12XLn prober offre également des capacités supérieures de suivi de bord. Il utilise une plaque de centrage automatique multi-colonnes avec plusieurs points qui peuvent détecter le mouvement des plaquettes de bord tout en capturant des images très précises. Le prober supporte plusieurs types d'étages et d'échantillons de plaquettes allant de la taille standard aux plaquettes ultra-grandes. En outre, TOKYO ELECTRON P 12 XLN est contrôlé par le dernier logiciel TOKYO ELECTRON et est compatible avec une gamme de systèmes d'exploitation pour des tests complets. Dans l'ensemble, le prober P-12 XLN est une solution idéale pour les essais et la métrologie dans l'industrie des semi-conducteurs. Ses composants de haute précision et ses fonctionnalités avancées garantissent une qualité d'image, une répétabilité et une précision exceptionnelles. Son large éventail de fonctionnalités et de capacités offre également aux utilisateurs une flexibilité ultime dans l'analyse et l'essai d'une variété d'échantillons.