Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9160189 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn + Prober est un wafer prober conçu pour une utilisation dans des solutions de test de semi-conducteur de haute précision et avancées. L'équipement a été conçu pour faciliter des essais flexibles, à petite échelle, à grande échelle et répétables pour le marché des semi-conducteurs en évolution rapide. Ce wafer prober offre un débit élevé et une grande précision pour les essais de production à haut volume. TEL P12XLN + est construit sur un corps de structure composite avancé, fournissant un cadre robuste qui peut accueillir jusqu'à douze plaquettes dans le porte-cassette compact fourni. Le chargement, le centrage et l'alignement des plaquettes sont réalisés grâce à une technologie avancée d'alignement centré par laser automatisé. Le système dispose également d'une unité automatique de cartographie et d'identification des plaquettes via des étiquettes RFID, garantissant des résultats de test précis. La plaquette avancée TOKYO ELECTRON P 12 XLN + est alimentée par une unité centrale de traitement haute performance, qui fournit une vitesse incroyable jusqu'à 2GHz. Couplé à la machine de commande de mouvement avancée, l'outil de mouvement 64 axes permet jusqu'à 3um résolution haute précision. L'actif est également entièrement compatible avec une variété de solutions logicielles de contrôle de prober, ouvrant la voie à des tests rapides et de grande capacité. TOKYO ELECTRON P12XLN + Wafer Prober présente également une variété de caractéristiques de sécurité et d'environnement, y compris un boîtier isolé, ignifuge et des portes de protection en verre, fournissant un environnement d'essai sûr. Afin d'assurer la sécurité des humains et des machines, TEL a conçu P 12 XLN + avec une fonction d'arrêt automatique de sécurité, qui se déclenche si le modèle détecte un mouvement anormal ou des conditions environnementales. Dans l'ensemble, TOKYO ELECTRON P-12XLn + Wafer Prober est un puissant, précis et très avancé wafer prober, offrant des capacités sans précédent pour tester et inspecter les puces semi-conductrices. Cet équipement est idéal pour des tests de production à haut volume dans des environnements avec un minimum d'espace au sol, offrant une vitesse et une précision accrues du processus.