Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9220506 à vendre en France

ID: 9220506
Style Vintage: 2005
Wafer prober Hot / Cold chuck temp: -25~150 Connecting tester T5375 / T5377 OS Version: Rzz00-R014.08QH Voltage: 200 VAC 2005 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn + est un prober très polyvalent conçu pour être utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs pour sonder des dispositifs et des circuits. TEL P12XLN + est capable de sonder simultanément jusqu'à 12 sites de contact pleine largeur, ce qui le rend idéal pour optimiser les techniques de sondes et maximiser le débit. Le prober est équipé de systèmes de contrôle de position et de mouvement qui permettent l'alignement de précision et le positionnement du site de la sonde pour assurer la précision de la sonde. TOKYO ELECTRON P 12 XLN + dispose également d'un système de mouvement 4 axes ultra-précis qui permet au prober de se positionner avec une extrême précision dans les axes X, Y, R et Z, offrant un haut niveau de contrôle et de flexibilité dans les procédures de test. Le prober offre également une capacité avancée de balayage contrôlé par la force pour des résultats de sondage répétables et fiables, ainsi qu'un mécanisme réglable de contrôle de la pression de l'aiguille pour tester des composants délicats. TEL/TOKYO ELECTRON P12XLN + propose une variété de supports de sonde, tels que le porte-sonde à faible profil TEL Hard Probe et le porte-sonde époxy conforme à la JIS TOKYO ELECTRON, tous deux compatibles avec une variété de conceptions de cartes de sonde manuelles et automatiques. Le prober dispose également d'un système intégré de surveillance de la température et d'un système d'étalonnage in situ. La conception robuste garantit un maximum de temps de disponibilité et de facilité d'utilisation, ce qui en fait un choix idéal pour la vérification de la fiabilité et les tests avancés des appareils. TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XLN + est un prober fiable et efficace avec une précision exceptionnelle et des performances constantes, ce qui en fait le choix idéal pour toutes les applications de test et de sondes de dispositifs semi-conducteurs.
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