Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9230418 à vendre en France
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ID: 9230418
Style Vintage: 2005
Prober
Gold chuck, 12"
Chiller type: D230
CPU Type: VIP3A
Manipulator
No RS232
GP-IB
WAPP
No SACC
OCR
Wafer loader: Right
2005 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn + est un produit utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs pour les essais électriques et optiques. Ce prober est conçu pour être une solution entièrement automatisée (FAS) pour sonder, ce qui permet un débit plus efficace et des rendements plus élevés. Il est équipé d'un système d'essai électrique automatisé (ATES) et utilise une combinaison d'analyse optique focale (OFA) et de vision et d'alignement (VA) pour une inspection visuelle précise des plaquettes semi-conductrices. Le système ATES de TEL P12XLN + sonde et accède automatiquement aux propriétés électriques des plaquettes semi-conductrices et permet à l'utilisateur d'effectuer des réglages précis en fonction des paramètres fournis. Cette configuration garantit que la plaquette est testée conformément aux spécifications du fabricant et aux exigences de production du marché. Le FAS offert par TOKYO ELECTRON P 12 XLN + réduit les temps d'installation et de formation requis par les autres sondes utilisées dans l'industrie des semi-conducteurs. Les OFA et VA utilisés par P-12XLn + permettent une inspection visuelle plus précise des plaquettes semi-conductrices. Le système OFA est capable d'identifier rapidement et précisément les défauts sur la plaquette, aidant l'utilisateur à faire la distinction entre un défaut et une caractéristique normale sur la plaquette. Cette fonctionnalité permet à l'utilisateur d'identifier les problèmes potentiels qui doivent être réglés pour assurer un produit réussi. L'AV utilise un microscope optique haute résolution pour mesurer l'emplacement et la taille d'un défaut. Cela aide l'utilisateur à identifier les défauts potentiels avant qu'ils ne deviennent un problème dans le processus de production de la plaquette. P 12 XLN + offre à l'utilisateur une expérience utilisateur exceptionnelle. Il est conçu pour être facile à utiliser, permettant à l'utilisateur d'accéder rapidement et facilement aux caractéristiques de la plaquette avec l'appui d'un bouton. L'interface conviviale offre une gamme de paramètres et de paramètres faciles à comprendre et à personnaliser. Les informations complètes fournies par TEL P-12XLn + permettent de s'assurer que les plaquettes sont testées selon les paramètres de production souhaités. TEL P 12 XLN + est l'un des sondes les plus avancées de l'industrie des semi-conducteurs et est capable de fournir des résultats fiables et précis. Ses systèmes FAS et ATES en font un choix idéal pour des tests rapides de produits et une évaluation précise des plaquettes. Son interface utilisateur robuste et facile à utiliser et ses capacités d'inspection visuelle supérieures en font un choix idéal pour tester efficacement de nouveaux projets.
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