Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9274820 à vendre en France

TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+
ID: 9274820
Style Vintage: 2004
Prober Hot / Cold chuck temperature: 30°C - 150°C Nickel chuck Hard Disk Driver (HDD) Floppy Disk Driver (FDD) Single cassette SACC GB-IP Ethernet Operating system: Rcd00-R014.08N2 Connecting tester: T 5335P Hinge type: T 5335P Configuration disk CPU Board: VIP3 Power supply: 200 VAC 2004 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn + prober est un appareil robuste et fiable d'essai, d'inspection et d'analyse des semi-conducteurs, conçu spécifiquement pour caractériser les plaquettes des dispositifs semi-conducteurs. Le prober dispose d'une large gamme de caractéristiques conçues pour augmenter sa précision et sa précision lors des essais de dispositifs semi-conducteurs. Il est équipé d'un système de coordonnées cartésiennes à trois axes pour la manutention et le positionnement des plaquettes, lui permettant d'isoler et de caractériser les plaquettes individuelles sur l'appareil. Il dispose d'une tête motorisée linéaire très précise pour assurer un emplacement de test optimal et reproductible. Le prober est également équipé d'une table à mandrin sous vide pour assurer un collage sûr et fiable des plaquettes lors des essais. TEL P12XLN + est livré avec une caméra prober haute résolution qui peut être utilisée pour analyser les caractéristiques précises de chaque appareil. Cela aide à augmenter le débit total des tests en permettant la caractérisation précise d'une plus grande zone d'échantillonnage. En plus de la caméra prober, TOKYO ELECTRON P 12 XLN + est livré avec un moniteur de 8 pouces hydroxy en temps réel qui est utilisé pour afficher les résultats en temps réel de toutes les analyses et essais d'une manière facile à comprendre. P 12 XLN + prober est également livré avec une interface utilisateur intuitive, conçu pour rationaliser le processus de test des semi-conducteurs. Cela comprend un écran tactile qui permet une réponse rapide aux commandes et une superposition graphique des mesures actuelles et des résultats du test. P12XLN + intègre également des techniques de mesure avancées, telles que l'analyse de balayage à plusieurs niveaux, pour garantir des résultats d'essai précis et reproductibles. Enfin, le prober est conçu avec un système de bras robot amélioré pour les tests automatisés, permettant aux utilisateurs de répéter rapidement et avec précision les tests sans interruption. Cet aspect automatisé contribue à améliorer la répétabilité, à accroître la productivité et à raccourcir le processus de développement. En conclusion, TEL/TOKYO ELECTRON P12XLN + prober est un équipement extrêmement fiable et précis conçu spécifiquement pour caractériser les plaquettes semi-conductrices. Ses fonctionnalités avancées, telles que l'automatisation robotique et l'analyse par caméra, aident à accélérer le processus de test des semi-conducteurs et à garantir des résultats précis. L'interface utilisateur intuitive et les techniques de mesure avancées sont également conçues pour assurer un test rapide et précis des appareils.
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