Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293620443 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 est un prober pour l'analyse et l'essai de composants et dispositifs électroniques sur une plaquette semi-conductrice. L'appareil offre aux clients la possibilité d'analyser rapidement, avec précision et fiabilité une variété de composants et d'appareils électroniques. TEL P8 utilise l'optique avancée et la robotique pour extraire une large gamme de données des composants et dispositifs électroniques. L'appareil dispose d'une caméra de focalisation automatique haute définition, qui fournit à l'utilisateur la résolution et la clarté jusqu'aux niveaux submicroniques. En outre, TOKYO ELECTRON P8 dispose d'un étage motorisé entièrement automatisé capable de balayage à grande vitesse et de précision de positionnement submicronique. TOKYO ELECTRON P8 utilise un système optique de pointe qui intègre une lunette de zoom automatisée pour des mesures de surface de haute précision des appareils testés. En utilisant des capteurs de couleurs numériques haute résolution et un positionnement mécanique, P8 peut exactement représenter et se concentrer sur des points serrés de la micro-structure d'un appareil. TEL P8 a également la capacité de mesurer la résistance de contact, le courant de fuite et les tensions de seuil des dispositifs. L'étage automatisé TEL/TOKYO ELECTRON P8 est capable de balayer et de positionner sur des plaquettes semi-conductrices à des vitesses élevées et avec une précision submicronique. L'étage supporte également un système d'alignement infrarouge pour une précision absolue sur les plaquettes multiples et répétables. P-8 est également livré avec une suite logicielle intégrée pour les utilisateurs intermédiaires et experts. La suite logicielle comporte des fonctionnalités telles qu'une interface utilisateur graphique intuitive, l'analyse automatisée des données, la configuration du réseau et la personnalisation des recettes. P 8 est un prober avancé et de pointe pour le marché des tests et analyses d'appareils électroniques. Il intègre une variété de l'optique avancée et de la robotique pour la mesure, l'imagerie et l'analyse des dispositifs sur les plaquettes semi-conductrices. L'étape automatisée, l'optique avancée et la suite logicielle intuitive se combinent pour offrir aux utilisateurs un outil simple et puissant pour analyser les caractéristiques et les performances des dispositifs semi-conducteurs.