Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293667431 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 est un capteur de microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour l'analyse et l'essai automatisés de plaquettes à semi-conducteurs. TEL P8 a été développé pour répondre aux exigences des procédés modernes de fabrication de semi-conducteurs. C'est une plate-forme innovante qui combine les capacités d'un SEM à la pointe de la technologie avec la commodité d'un wafer prober prêt à la production. TOKYO ELECTRON P 8 offre une gamme complète de fonctionnalités avancées pour l'analyse haut de gamme et les essais de production. Il dispose d'un SEM double faisceau breveté, d'un moteur à 10 étages unique, d'une grande chambre d'échantillonnage et de positionneurs automatisés pour permettre une analyse plus rapide des échantillons. TEL P8 dispose d'une interface interface graphique intuitive qui permet une configuration et un fonctionnement faciles de l'instrument. TEL/TOKYO ELECTRON P8 est capable d'effectuer une grande variété de tests d'analyse de surface (SA) et de caractérisation électrique (EC), permettant une compréhension rapide des caractéristiques des dispositifs. Le SEM à double faisceau permet d'effectuer simultanément une imagerie visuelle et des tests électriques, permettant une évaluation rapide des microstructures des appareils IC. Le moteur à 10 étages permet la manutention automatisée des plaquettes et la commande du moteur pas à pas. Cela permet un balayage précis d'une grande zone d'échantillonnage à des débits élevés. P8 est bien adapté aux applications analytiques avancées et axées sur la production. Il est très polyvalent et peut être facilement adapté aux exigences des tests personnalisés. En outre, TOKYO ELECTRON P8 dispose d'un débit élevé et de petites tailles d'échantillons, ce qui en fait le choix idéal pour les essais de production, ainsi que l'analyse des défaillances des dispositifs semi-conducteurs. Ce prober SEM puissant est un outil essentiel pour évaluer les caractéristiques physiques et électriques des dispositifs semi-conducteurs. Sa combinaison de fonctionnalités sophistiquées, d'automatisation et de déploiement facile en font le choix idéal pour l'évaluation des appareils et les tests de production.