Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293742041 à vendre en France
URL copiée avec succès !
Appuyez sur pour zoomer
ID: 293742041
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1996
Prober, 8"
Nickel plated chuck
Hot chuck temperature: 40°-150°C
Tester: GPIB
CPU Type: IP/DP
No ethernet
No OCR Camera
No inker
1996 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8 est un prober utilisé pour mesurer les propriétés électriques d'un dispositif semi-conducteur. C'est un équipement d'essai de semi-conducteur qui permet une mesure électrique de haute précision des dispositifs semi-conducteurs au niveau de la plaquette. TEL P8 prober est conçu avec une empreinte de haute précision mais compacte pour répondre aux besoins croissants pour les applications de wafer prober, offrant une meilleure précision de sonde de wafer, rendement et débit. Il peut mesurer différents paramètres électriques tels que la résistance de contact, la résistance des fils, la consommation d'énergie et plus encore. TOKYO ELECTRON P8 prober fonctionne sur la technique de balayage sans vis, où le déplacement de contact et la résistance sont mesurés simultanément. Le système est testé et certifié ASIC et fourni comme un composant complet qui comprend des cartes de sonde, tête, mandrin et logiciel. La Carte Sonde est conçue pour maintenir les aiguilles de la sonde en contact avec la plaquette testée. Les aiguilles Probe peuvent être ajustées avec précision pour mesurer la résistance d'un seul point jusqu'à un grand nombre de points avec une répétabilité élevée et une large gamme de résistances. La carte sonde est équipée d'un mécanisme de refroidissement qui permet une sonde de haute précision lors de charges prolongées. La tête utilise une unité de commande de l'actionneur rétroactif qui permet une grande répétabilité dans l'insertion et le contact de la sonde. Le mandrin utilise une machine à vide pour assurer une prise sûre sur la plaquette tout en palpant. Il offre également un niveau robuste de protection contre la rupture pendant le transfert des plaquettes. Le logiciel TEL/TOKYO ELECTRON P8 prober est conçu pour fournir un environnement de test convivial. Il contient des outils d'acquisition, d'analyse et d'imagerie de wafer qui sont essentiels pour réussir les tests de wafer. Le logiciel aide les opérateurs à personnaliser les paramètres de test en fonction de leurs besoins et offre également la configuration et l'automatisation des processus. Les données générées par P8 prober peuvent être exportées et importées dans différents formats, facilitant ainsi un transfert et une analyse efficaces des données. En résumé, TOKYO ELECTRON P8 prober fournit un outil de test fiable et précis pour les composants semi-conducteurs. Il est équipé de fonctionnalités avancées qui permettent des tests efficaces avec une intervention humaine minimale. L'atout combine une empreinte de haute précision avec une plateforme logicielle conviviale, ce qui en fait une solution idéale pour le test et l'analyse au niveau des plaquettes.
Il n'y a pas encore de critiques