Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293742044 à vendre en France

Fabricant
TEL / TOKYO ELECTRON
Modèle
P-8
ID: 293742044
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1995
Prober, 8" Nickel plated chuck Hot chuck temperature: 40°-150°C Tester: GPIB CPU Type: IP/DP No ethernet No OCR Camera No inker 1995 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8 prober est un équipement avancé de sondes semi-conductrices conçu pour permettre de sonder avec précision les plus petites structures de dispositifs sur le marché. Le distributeur automatique complet de plaquettes est conçu pour effectuer à la fois la sonde sans contact en mode filière et la sonde de contact monoplace avec une surface de filière maximale de 155 mm x 155 mm. TEL P8 fournit une grande précision grâce à l'utilisation d'un système d'alignement optique avancé et d'un étage X/Y de précision à deux étages. L'instrument est composé de deux composants principaux, le prober lui-même et le bras de sonde. La base prober contient un étage de palier à air X/Y de précision qui est entraíné par un moteur pas à pas, une base de montage pour le bras prober, et un scanner pour la sonde sans contact en mode die. Le bras prober dispose d'une unité de montage en flexion à faible bruit pour un contrôle précis du mouvement. Le bras a une pince à main pour l'alignement manuel de la matrice, ainsi que des effecteurs robotiques pour l'alignement automatisé de la matrice. TOKYO ELECTRON P 8 est conçu avec une large gamme d'options configurables qui peuvent être ajustées en fonction de l'application spécifique. Le prober peut être équipé d'aligneurs manuels et semi-automatiques pour obtenir un alignement précis au niveau de la matrice, tandis que son étage de précision X/Y à deux étages permet aux utilisateurs de corriger facilement les désalignements d'échantillons. Le prober offre également des options pour la sonde de contact à faible force (LFCT) et la technologie d'étanchéité sous vide pour une meilleure sonde au niveau de la matrice. TEL/TOKYO ELECTRON P8 prober est compatible avec une variété de systèmes de sondes, y compris des systèmes de sondes haute tension et paramétriques. L'instrument est également conçu pour prendre en charge les applications automatisées de manutention au niveau des plaquettes, telles que le burn-in au niveau des plaquettes, lorsqu'il est utilisé avec sa machine de manutention robotisée. Le prober est capable de produire des images à haute résolution d'échantillons jusqu'à 100 nm avec sa sonde sans contact en mode filière. En outre, il prend en charge à la fois la rétroaction statistique en temps réel et le contrôle de la température, permettant aux utilisateurs de maintenir l'intégrité des échantillons dans des environnements de fabrication de semi-conducteurs hautement réglementés. TEL/TOKYO ELECTRON P8 prober fournit des capacités avancées pour la sonde automatisée et d'autres applications d'essai de semi-conducteurs. C'est un instrument essentiel pour les procédés de fabrication de semi-conducteurs les plus avancés, permettant de sonder avec précision les plus petites structures de dispositifs. La conception robuste garantit un fonctionnement exceptionnel et une fiabilité à long terme, tandis que la technologie de pointe fournit une grande précision et des résultats précis.
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