Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293742045 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 est un prober très spécialisé utilisé pour inspecter les plaquettes semi-conductrices. Ce prober est un équipement multi-axes avec une large gamme de mouvements et des niveaux élevés de précision. TEL P8 prober dispose d'une table XYZ-Theta qui permet un alignement rapide et précis des plaquettes. Il a une rotation maximale de 360 degrés et une stabilité de stade améliorée, donnant des résultats précis et reproductibles. Le prober est capable de fonctionner dans des environnements jusqu'à 35 ° C et a une précision ± 2 μ m. TOKYO ELECTRON P8 offre également une large gamme de technologies de sonde, qui comprennent la capacité, la résistance, le courant et l'inductance. Cela permet de tester un large éventail de types de semi-conducteurs, y compris des IC individuels, des modules multi-puces et des cartes de circuit. Le prober dispose également d'un système de vision intégré pour permettre l'alignement précis des IC individuels et d'autres circuits intégrés. P-8 dispose d'une unité de contrôle de température en temps réel intégrée pour les sondes, lui permettant d'effectuer des mesures précises à haute température ou pression. Cette fonctionnalité élimine le besoin de composants de refroidissement supplémentaires, rationalisant le processus d'essai. Le prober comprend également une architecture sous-jacente robuste qui offre aux utilisateurs des niveaux plus élevés de fiabilité, de stabilité et de vitesse. Il fonctionne sur une plate-forme basée sur FPGA avec une machine d'exploitation Windows, donnant aux utilisateurs une expérience utilisateur simplifiée. Ses fonctions intégrées de surveillance et de diagnostic permettent aux utilisateurs de dépanner rapidement et facilement en cas de problèmes. TEL/TOKYO ELECTRON P8 est un prober tout-en-un qui offre les dernières technologies dans l'automatisation prober. Avec sa table XYZ-Theta et ses fonctions de diagnostic et de surveillance intégrées, ce prober est un excellent choix pour tester une large gamme de dispositifs semi-conducteurs. En outre, sa gamme de technologies de sonde en fait un choix idéal pour tester des IC individuels, des modules multi-puces et des cartes de circuit.