Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293773728 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 est un prober avancé conçu spécifiquement pour le test de micropuces et la caractérisation des dispositifs. Ce prober dispose d'un équipement miroir réfléchissant de haute précision pour la mesure précise des dispositifs jusqu'à 1um. Il dispose d'un système de sonde automatisé avec un alignement automatique intégré qui est précis à 0,5 um avec un module de motif de câblage polyvalent. Le prober dispose également d'une unité de micro-ajustement innovante pour obtenir un alignement exact du texte, ainsi que d'une machine d'étalonnage automatisée pour garantir des résultats d'essai précis et reproductibles. Ce prober a été conçu avec un accent sur les capacités de balayage à haute vitesse et la répétabilité. Il utilise la technologie avancée de direction de faisceau pour se concentrer précisément sur les petites zones d'essai à l'échelle nanométrique. En outre, l'outil est équipé d'algorithmes avancés et d'outils pour affiner la vitesse et la précision du balayage. Cela fournit aux utilisateurs des résultats de test fiables avec des erreurs minimes. Le prober dispose d'un amplificateur à faible bruit, d'un récepteur à haute sensibilité et d'un module de corrélation croisée sophistiqué. Il dispose également d'un mélangeur de fréquence réglable, qui offre aux utilisateurs la possibilité d'affiner la bande passante et le bruit pour une meilleure analyse des signaux. Cet appareil dispose également d'un actif de correction de planéité multi-niveaux pour des résultats précis et reproductibles, même en balayage à grande vitesse. TEL P8 est un modèle compact, léger et facile à utiliser. Il est alimenté par un équipement informatique très efficace qui fournit des performances de test fiables. Le prober est également équipé d'une interface graphique facile à utiliser, qui permet aux utilisateurs d'ajuster facilement les paramètres, d'analyser les données et de dépanner au besoin. TOKYO ELECTRON P 8 est conçu pour mesurer avec précision les dispositifs de taille sub-micron et effectuer une caractérisation précise des appareils. Sa polyvalence et sa fiabilité en font une solution idéale pour les essais de semi-conducteurs. Sa petite taille, son faible coût d'exploitation et son fonctionnement convivial en font le choix idéal pour une large gamme d'applications de test.