Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293809907 à vendre en France

Fabricant
TEL / TOKYO ELECTRON
Modèle
P-8
ID: 293809907
Style Vintage: 2000
Prober VIP3 Semi-Automatic Probe Card Change (SACC) Wide-Area Probe Polish (WAPP) Golden chunk Optical Character Recognition (OCR) 2000 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8 est un instrument prober qui manipule et mesure de très petits composants électroniques. Sa conception est basée sur une combinaison de principes électrostatiques et diélectriques pour créer un environnement très précis et à faible bruit pour le traitement des composants électroniques. TEL P8 a une conception unique qui utilise un équipement combiné charge-décharge avec une gamme de tension changeable de -30V à 30V et une alimentation capacitive avec limite de courant réglable pour fournir des mesures précises et le traitement de petits échantillons. La machine a un large éventail d'applications et peut être utilisée pour effectuer diverses tâches, telles que la sonde de wafer, les tests MEMS, les tests de plomb de faisceau, les essais de dispositifs, et les essais de nanotechnologie. Le TOKYO ELECTRON P 8 est équipé d'un voltmètre numérique haute vitesse (DVM) et d'un compteur de fréquence numérique haute vitesse (DFC) pour mesurer et surveiller avec précision la tension et la fréquence appliquées des échantillons. En outre, la machine est également équipée de Modbus/TCP et USB de communication avancée, qui permettent l'accès à distance et la communication avec d'autres appareils connectés à P-8. Le TEL P-8 dispose également d'un tunnel entièrement blindé diélectrique et d'une conception à faible vibration, qui permet une manipulation sûre des composants et des mesures précises. P8 comprend également un système de compensation vibro-acoustique (VCA), qui permet d'éviter que le bruit et les vibrations n'affectent les mesures. La machine dispose également d'une pince capacitive diélectrique-blindée tunnel, qui assure le serrage sécurisé des échantillons sur le détecteur. P8 comprend également une unité de détection automatique des défaillances et un environnement blindé peu profilé (LPSE) pour réduire le risque d'endommagement de composants électroniques délicats. La machine automatique de détection de défaut peut détecter tout circuit ouvert ou court-circuit entre le contact au sol et les points de mesure. De plus, l'environnement blindé peu profilé (LPSE) est conçu pour réduire le risque de brouillage de l'IME qui peut influer sur la précision. La machine est également équipée de logiciels avancés, tels que le suivi des plaquettes, la collecte et l'analyse des données, le tri des profils et l'exploitation forestière étendue. Le logiciel TOKYO ELECTRON P8 est conçu pour fournir une collecte et une analyse de données efficaces et précises tout en assurant un accès sécurisé à toutes les données stockées. TOKYO ELECTRON P-8 est un excellent choix pour les essais avancés de nanotechnologie et de MEMS car il est conçu pour une précision, une fiabilité et une sécurité maximales. Il est également idéal pour tester et traiter des composants électroniques dans les semi-conducteurs, le stockage de données, et d'autres industries.
Il n'y a pas encore de critiques