Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9021587 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 Prober est un appareil de mesure de pointe conçu pour les essais de semi-conducteurs. Le prober est optimisé pour la récupération à haute résolution et à faible bruit des paramètres de la filière, y compris le coefficient de température de résistance (TCR), la tension de seuil, le courant moyen de fuite de jonction et la résistance à la marche. TEL P8 permet de tester avec précision les plaquettes semi-conductrices, sondant jusqu'à huit filières différentes simultanément en un seul cycle. TOKYO ELECTRON P 8 Prober est équipé d'un contrôleur multi-canaux compact, permettant aux utilisateurs de configurer et d'exécuter automatiquement plusieurs cycles de mesure différents. Il est alimenté par un système de contrôle fiable et convivial qui offre une vitesse, une précision et une précision accrues. P-8 fournit des résultats reproductibles et reproductibles, et peut être utilisé pour évaluer différentes températures, valeurs de tension et valeurs de courant pour obtenir avec précision les données les plus pertinentes et les plus précises. Le prober utilise une unité de positionnement XY de haute précision pour localiser et aligner avec précision les sondes sur la filière, ce qui permet un contact efficace entre les sondes et les matrices. Le porte-sonde fiable assure un contact électrique de haute fidélité et un balayage rapide de la surface. De plus, TEL/TOKYO ELECTRON P8 fournit une machine de vision avancée pour un alignement précis de la surface à sonder. TOKYO ELECTRON P8 réunit plusieurs certifications pour garantir ses plus hauts niveaux de qualité et de performance. Il est conforme aux normes internationales pour les essais d'étalonnage et de cycles de température, ainsi que pour les essais de continuité du câblage métallique. Il est conçu pour faciliter de multiples types de tests, y compris la résistance-capacité, le courant de fuite de grille, la grille diélectrique et les mesures de panne de drain. P 8 Prober est une solution robuste et fiable pour des tests de semi-conducteurs précis et efficaces. Il offre un niveau exceptionnel de précision et de performance, ainsi qu'une plus grande automatisation et polyvalence. En outre, il offre un outil de contrôle convivial pour permettre aux utilisateurs graphiques de configurer rapidement et facilement des cycles de mesure.