Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9245565 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 est un équipement prober TEL (TOKYO ELECTRON) qui est utilisé pour sonder des contacts électriques spécifiques et d'autres pièces minuscules sur une plaquette semi-conductrice ou une carte de circuit imprimé. Il dispose d'un module de microscope à force atomique (AFM) qui fournit une analyse exacte et haute résolution. En outre, il est intégré avec un système électrostatique de haute précision qui maintient un contact constant et sûr entre le capteur et l'échantillon en appliquant une force régulière et stable. L'unité de focalisation automatique de TEL P8 garantit que l'écart de détection réglable est précisément réglé avec une influence minimale des perturbations environnementales. L'unité de reconnaissance automatique des conditions nécessaires prépare aussi rapidement les paramètres optimaux pour garantir des résultats de mesure précis. TOKYO ELECTRON P 8 est livré avec une capacité de balayage à grande vitesse qui lui permet de sonder une plus grande surface de l'échantillon en des temps plus courts. Il est également optimisé pour la répétabilité, fournissant des résultats cohérents et fiables pour chaque mesure prise, ce qui le rend idéal pour des mesures très précises sur les cartes à semi-conducteurs et les circuits imprimés. Une fonction d'auto-apprentissage permet en outre de s'adapter rapidement aux différentes caractéristiques mécaniques de l'échantillon, ce qui facilite un sondage très précis. Pour plus d'efficacité, TEL P-8 met en œuvre le port Ethernet et une interface graphique multi-fenêtres pour contrôler et surveiller la machine. La machine fournit également des fonctions spéciales et des mesures comme la mesure du profil tridimensionnel de la surface exposée. De plus, la large gamme d'accessoires en option lui permet de manipuler facilement divers appareils. Dans l'ensemble, TOKYO ELECTRON P8 est un outil performant et précis qui est optimisé pour la fiabilité et la répétabilité. Son module AFM fournit des mesures très détaillées tandis que son espace de détection réglable permet de maintenir un contact constant et sûr avec l'échantillon. Sa capacité de balayage à grande vitesse et son interface graphique multi-fenêtres garantissent également la commodité et l'analyse rapide des données. C'est un choix idéal pour sonder les cartes semi-conductrices et les circuits imprimés.