Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9407580 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 est un prober conçu pour sonder des circuits intégrés. Il est capable de manipuler les IC les plus avancés avec des caractéristiques telles que des géométries de sous-microns, des broches à haute densité et des substrats à haute température. Il est idéal pour tester des IC complexes, en raison de sa grande précision et de sa vitesse. TEL P8 prober est un équipement entièrement configuré avec une tête de sonde complète, un mécanisme de mise en scène et une interface électrique. Il est équipé d'un design unique de capteur d'impulsions de puissance et d'un système de positionnement fin à 6 axes avec des micro-mètres de précision. Ceci assure un placement précis et reproductible des sondes au CI testé. Il est également équipé d'un moniteur vidéo numérique haute résolution, permettant des inspections visuelles précises. TOKYO ELECTRON P 8 a une capacité de manipulation de puissance allant jusqu'à 60 W et est capable de tester des IC avec des broches jusqu'à 12 mm de hauteur. La tête de sonde à signal simple ou différentiel à très faible bruit gère les fréquences du signal jusqu'à 30 GHz. Il dispose d'une unité de test de paramètres S (STS) pour mesurer les niveaux de signaux DC et RF. Le prober héberge une machine de mesure haute performance capable de collecter jusqu'à 320 canaux de données parallèles. Cet outil est accompagné d'une suite logicielle complète qui permet aux utilisateurs d'accéder à diverses fonctions d'analyse et de mesure. Certaines caractéristiques notables de P8 prober sont qu'il offre des cycles de mesure automatisés pré-programmés et la possibilité de stocker jusqu'à 4000 ensembles de données pour un examen ultérieur. TEL P-8 prober actif est conçu pour la facilité d'utilisation et intégré dans une variété de configurations personnalisées. Le prober est certifié pour satisfaire et dépasser les normes de qualité, ce qui lui permet de fournir des résultats exacts. Cela en fait une solution idéale pour les petites et grandes exigences d'essai.