Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8i #293610615 à vendre en France

Fabricant
TEL / TOKYO ELECTRON
Modèle
P-8i
ID: 293610615
Style Vintage: 2001
Wafer prober 2001 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8i est un prober avancé pour la mesure des caractéristiques électriques des circuits intégrés (IC). Il est utilisé pour sonder et tester des paquets d'IC, des sondages au niveau des puces et des sondages dimensionnels illimités. TEL P8I est un système de sonde entièrement automatisé qui a un débit élevé et est capable de sonder des IC avec plusieurs broches de 6 à 65 mille broches en un seul cycle. TOKYO ELECTRON P 8 I dispose d'une unité de commande de mouvement 3 axes embarquée qui permet un positionnement et un déplacement très précis des bras manipulateurs et des aiguilles. Il dispose également d'un étage XYZ adaptatif qui minimise les vibrations et assure un contact stable de la sonde avec les IC. De plus, la vitesse de sonde de TEL/TOKYO ELECTRON P 8 I a été améliorée par rapport aux modèles précédents grâce à sa boucle de commande logique à grande vitesse, ses gains d'asservissement rapides et son impédance électronique optimisée. Le prober dispose également d'un alignement de haute précision avec des corrections automatiques, ce qui permet d'obtenir des résultats précis et reproductibles d'un test à l'autre. De plus, ses fonctions de test automatisées, telles que le scan tracing, le OTP tracing, et les mesures de température IC, facilitent des mesures et des tests IC rapides et précis. Afin d'assurer un bon contact entre les aiguilles et les broches IC, P8I dispose d'un système avancé de nettoyage et d'alignement des aiguilles conçu pour minimiser les inégalités de contact et assurer une grande stabilité de la sonde. En outre, il dispose de mécanismes spéciaux de protection des aiguilles qui augmentent la durée de vie des sondes et réduisent les coûts de maintenance. Dans l'ensemble, TEL/TOKYO ELECTRON P8I est un prober avancé conçu pour répondre aux besoins des essais modernes d'IC. Son haut débit, des résultats très précis, et des fonctionnalités avancées le rendent idéal pour sonder et tester des IC avec plusieurs broches.
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