Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #293712728 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL est un prober spécialement conçu pour les essais de plaquettes et de dispositifs semi-conducteurs connexes. Ce prober est très fiable et peut être utilisé dans des applications de production exigeant des coûts de maintenance faibles. Il est équipé d'un indexeur de 300mm et d'une force maximale de 1000N. TEL P8XL dispose d'un équipement intégré de manutention des plaquettes et de positionnement automatique de la sonde, avec une précision d'orientation de la ligne de scribe égale ou supérieure à 0,1 mm et une précision de position égale ou supérieure à 0,02 mm. TOKYO ELECTRON P8-XL offre également une station de boîte en option, ainsi que des capacités de transfert de cassette à cassette. TEL/TOKYO ELECTRON P-8 XL est un prober haut de gamme avec une large gamme de capacités. Il comprend un système de localisation entièrement automatisé, simple ou double électrode avec une résolution X-Y de 0,005mm ou mieux, avec caméra autofocus embarquée et grabber cadre. Le prober est livré avec une station de sonde multi-modes pour l'alignement manuel, les motifs de mesure programmables et la mesure du point de sonde. TEL P-8 XL dispose d'une suspension à action parallèle avancée pour une mesure précise et répétable de la planéité de surface. TEL P8-XL dispose d'une interface utilisateur graphique couleur (interface graphique) 24 bits, ce qui le rend facile à utiliser et à programmer. La machine est également livrée avec une suite d'outils d'analyse de données pour un contrôle efficace des plaquettes, y compris un outil de coordonnées log-log, l'analyse statistique et les fonctions de filtrage. En outre, P-8XL dispose d'un actif de manutention automatique de plaquettes en option avec traitement de lot parallélisé et mémoire de banque de données. Le modèle offre également le bossage de plaquettes, le ramassage de tension, la prise de vue complète, et une gamme de tests d'équipement, y compris des mesures de sondes IC. P8-XL prober est conçu pour le contrôle automatisé de la quantité de production des puces et plaquettes semi-conductrices. Ce système est un outil fiable qui peut être utilisé pour la surveillance de divers composants au niveau de la plaquette et de la matrice, y compris le bossage, la rampe de tension et les essais électriques. Il s'est avéré extrêmement robuste et fiable dans des conditions environnementales sévères, ce qui en fait un choix idéal pour des opérations de production difficiles. De plus, avec sa grande précision, cette unité est un excellent choix pour la production et le test de dispositifs semi-conducteurs.