Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #293766450 à vendre en France

Fabricant
TEL / TOKYO ELECTRON
Modèle
P-8XL
ID: 293766450
Prober.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL est un prober de pointe conçu pour divers besoins de sondes. Il dispose d'un système de sondes très précis et précis, permettant une large gamme d'applications allant du test microélectronique au test MEMS. Avec sa conception haute performance et sa construction robuste, TEL P8XL fournit une plate-forme fiable pour les utilisateurs de sonder facilement et efficacement les plaquettes et les dispositifs sans compromettre la précision et les performances. TOKYO ELECTRON P8-XL est équipé d'un système de positionnement avancé qui offre un réglage précis en X, Y et Z. Cette capacité de contrôle de haute précision permet un positionnement précis et reproductible de la sonde et un mouvement ultra-lisse sur la surface de la plaquette ou du dispositif. En outre, il dispose d'une interface utilisateur graphique intuitive qui permet aux opérateurs de configurer et d'ajuster rapidement et facilement les opérations de sondes avec un minimum d'effort. Cela garantit que les utilisateurs peuvent facilement s'adapter à toute modification ou exigence dans leur positionnement de sonde. En plus de ses caractéristiques de positionnement, TEL/TOKYO ELECTRON P-8 XL offre également une variété de capacités de test et de vérification. Il prend en charge les opérations automatisées de test, de mesure et d'étalonnage. De plus, les utilisateurs peuvent programmer et exécuter le diagnostic et l'évaluation des modes de défaillance, des types de défaut et des conditions de défaut. En outre, ses capacités de test avancées comprennent la cartographie thermique, le test thermique, le tri des plaquettes et l'analyse de stress. Ces capacités permettent aux utilisateurs d'identifier et de classer avec précision les défauts, de réduire le temps d'essai et d'améliorer le contrôle de qualité global. Dans l'ensemble, P8-XL prober est une solution fiable et performante pour des tâches de sondes sophistiquées. Son système de sondage avancé, son interface utilisateur intuitive et son large éventail de capacités de test et de vérification permettent aux utilisateurs d'analyser rapidement et avec précision les plaquettes et les surfaces des appareils. En tant que tel, il est un instrument idéal pour MEMS, microélectronique, et d'autres applications d'échantillonnage.
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