Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #293773727 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL est un prober avancé conçu pour une variété de tests de matériaux de processus semi-conducteurs, tels que le dictage et la sondes. Ce prober est utilisé pour surveiller et mesurer les caractéristiques des wafers, die et autres dispositifs dans les processus critiques. Le prober est conçu pour répondre aux normes les plus élevées de l'industrie en termes de performance, de précision et de fiabilité. TEL P8XL prober fournit des mesures et des essais rapides, précis et reproductibles pour s'assurer que les appareils fabriqués au moyen de processus critiques répondent aux spécifications du client. Le système d'essai et de mesure est équipé d'une tête de sonde de pointe, d'étages de précision et d'un système optique. La tête du prober est équipée d'une combinaison d'un étage de mouvement haute résolution, d'un capteur laser de déplacement et d'un système d'interrogation optique MEMS. L'étage de mouvement et le capteur laser de déplacement permettent une détection rapide et précise ainsi que la mesure de haute précision de tous les tirets et marques à la surface du dispositif. TOKYO ELECTRON P8-XL dispose également d'une fonction de correction de processus automatisée (APC), qui permet de suivre à grande vitesse les positions de la filière et de mesurer de fines indentations même dans les grandes lamelles. Grâce à son axe de mouvement intégré, tout revêtement minutieux, ou les matrices tombées peuvent être rapidement compensés. Le prober est équipé de plusieurs types d'étages, dont un étage polyshérique, un étage de balayage à fente CMOS, un étage CrasantéSet, un étage de découpe laser et un porte-carte sonde. L'étage polyshérique assure que la surface de la Wafer/die est régulière et plane. L'étage de balayage à fente CMOS permet un alignement et un placement précis du prober par rapport à la plaquette. Le stade de CradleSet est utilisé pour exactement lire rapidement et évaluer meurent des dessins sur un photomasque. L'étape de découpe laser permet la découpe et le positionnement répétables d'une plaquette. Le support de la carte de sonde supporte plusieurs configurations de broches de données pour améliorer la précision et la flexibilité des tests. TOKYO ELECTRON P-8XL est conçu avec un microscope vidéo de type colonne et une puissante interface utilisateur d'inspection de la matrice. Il est équipé d'une optique avancée et de caméras haute résolution pour capturer et inspecter les caractéristiques de la plaquette testée. Le microscope fournit également des images détaillées de surfaces de plaquettes et de matrices avec une variété de grossissements, permettant à l'opérateur de valider les caractéristiques de la plaquette testée. TOKYO ELECTRON P8XL est un prober très fiable et polyvalent conçu pour mesurer et tester avec précision une variété de matériaux de procédés semi-conducteurs. Avec son large éventail de caractéristiques, il garantit que les spécifications des appareils clients sont respectées avec un niveau élevé de précision, de précision, de répétabilité et de fiabilité.