Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #293809912 à vendre en France

'TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL 'est un prober de TEL Ltd. (TOKYO ELECTRON) qui sert à évaluer divers types de circuits intégrés (IC). TEL P8XL est un outil d'inspection optique automatisé conçu pour détecter les défauts sur la surface IC tels que les rayures, les taches nues, les empreintes digitales, les fissures de la ligne de coiffure et les vides. Il peut également être utilisé pour mesurer des épaisseurs sur des métallisations de bosse, mesurer l'épaisseur du film, et mesurer des variations d'épaisseur. TOKYO ELECTRON P8-XL est composé d'une plate-forme de balayage de sphère, d'un équipement de détection optique et de fonctions d'automatisation intégrées. La plate-forme de balayage de sphère est un système de balayage ultra-précis qui se compose de deux tables rotatives, objectif distal, un mécanisme de focalisation de proximité pour le contrôle du profil de surface et de la position centrale, et le contrôle automatisé de l'étage. L'unité de détection optique est une machine à vision haute résolution pour détecter les défauts sur divers IC. Cet outil est capable de régler le trajet optique pour différentes tailles et géométries d'IC, et supporte également l'utilisation de divers types de sources lumineuses d'éclairage. Les fonctions d'automatisation de TEL/TOKYO ELECTRON P-8 XL lui permettent d'effectuer un alignement automatique avec la surface du substrat et un réglage automatique de focalisation pour différents types de surfaces du substrat. Le logiciel innovant peut distinguer le défaut des motifs normaux sur le CI, et peut mesurer avec précision les motifs de CI fins pour divers types de structure IC. En plus de cela, l'outil peut analyser et simuler divers processus qui sont liés à la tendance de fabrication IC de miniaturisation, d'intégration, et de précision. TEL/TOKYO ELECTRON P 8 XL prober est conçu pour traiter différentes tailles de substrat et types de tests, tels que l'examen des défauts et la métrologie. Il est conçu pour analyser les IC avec précision et rapidité, à des vitesses de débit élevées. Cela permet d'assurer la qualité et la fiabilité des IC fabriqués, en détectant efficacement les défauts et en évaluant les performances du CI. Cela fait de TEL P 8 XL un outil clé dans le processus de fabrication des semi-conducteurs.