Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #293816366 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL est un prober avancé qui est utilisé pour évaluer les plaquettes semi-conductrices et tester la filière IC dans la production de dispositifs semi-conducteurs. Ce prober dispose d'un appareil de mesure confocale à quatre niveaux unique qui est conçu pour évaluer les performances des circuits de haute précision. TEL P8XL est construit avec des technologies de pointe telles qu'une grande chambre à vide, des servomoteurs et un système de positionnement haute résolution. Ce prober avancé dispose également d'une unité de refroidissement multi-étages qui contribue à assurer une répartition uniforme de la température dans la zone d'essai. La machine de mesure confocale de métrologie à 4 niveaux offre une précision supérieure lors de la mesure des petites caractéristiques et des structures détaillées des IC. TOKYO ELECTRON P8-XL dispose d'un étage d'échantillonnage amélioré qui peut accueillir des échantillons jusqu'à 216mm de taille, permettant une analyse et des essais à grande échelle de la filière et des assemblages de semi-conducteurs. Ce prober utilise une gamme de systèmes de mesure et de capteurs avancés, tels qu'un détecteur de bord de wafer ASML et un outil optique ultra haute résolution, pour fournir les résultats les plus précis. P8-XL est équipé d'un outil automatisé d'évaluation électrique in situ qui comprend les derniers algorithmes de test IC et les technologies modernes de test ASIC. Ce modèle innovant permet d'automatiser et de tester simultanément jusqu'à 16 appareils. En outre, ce prober est également capable d'effectuer une large gamme de tests de production, avec une gamme étendue de capacités de température, d'humidité et de contrôle de la force. TEL/TOKYO ELECTRON P 8 XL dispose également d'un équipement de diagnostic intégré pour surveiller la qualité et la stabilité des processus d'essai des appareils. Dans l'ensemble, le P 8 XL est un prober avancé qui offre des performances de pointe et une précision exceptionnelle. Son système de mesure confocale en métrologie à 4 niveaux, son évaluation électrique automatisée in situ, sa gamme complète de tests de production et son unité de diagnostic intégrée en font un outil inestimable pour les fabricants de dispositifs semi-conducteurs.