Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #293827264 à vendre en France

Fabricant
TEL / TOKYO ELECTRON
Modèle
P-8XL
ID: 293827264
Style Vintage: 1999
Prober 1999 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL Prober est un équipement entièrement automatisé et de haute précision conçu pour tester et mesurer des circuits intégrés et des composants sur des plaquettes semi-conductrices. La polyvalence de TEL P8XL Prober offre une large gamme de capacités, y compris l'alignement automatique et la commande de focalisation, l'alignement précis de la carte de sonde et le contrôle de mouvement, et la sonde automatique de haute précision de jusqu'à huit voies en parallèle, qui peuvent tous être facilement configurés pour répondre à un certain nombre de besoins des clients. TOKYO ELECTRON P8-XL Prober est conçu pour être très précis et fournir des résultats reproductibles. Il utilise un Wafer Indexing System (WIS) breveté qui assure le même positionnement et l'alignement de la plaquette à toutes les étapes du processus de test, ainsi qu'une unité de centrage automatique de l'outil. Cela garantit un alignement et une précision adéquats lors du transfert de données entre la plaquette et la carte de sonde, assurant ainsi la précision et la répétabilité des données. TOKYO ELECTRON P-8XL Prober est conçu pour être convivial, avec un écran tactile large et intuitif et un accès facile à tous ses composants. En outre, il offre différents niveaux de contrôle sur sa capacité de sonder, des macros de base aux algorithmes avancés, ce qui permet de personnaliser facilement ses performances pour un large éventail de besoins. En outre, plusieurs processus peuvent être exécutés simultanément, contribuant à maximiser la productivité. En plus de sonder les plaquettes avec une grande précision, TEL P-8 XL Prober offre également des capacités d'analyse post-sondes. Il est capable d'effectuer des essais de fuites de grille et de contact, des mesures de transistor et des comparaisons de motifs, et peut être relié à une machine facultative de révision automatique des défauts (ADR). Cela permet une cartographie fiable des traces et une classification des défauts, ce qui en fait un choix idéal pour des applications de test complexes. Dans l'ensemble, P-8XL Prober offre un haut niveau d'efficacité et de précision dans la recherche et le test des plaquettes. Son alignement automatique et le contrôle de la focalisation, les algorithmes de sondes personnalisables et l'analyse des défauts post-sondes en font un excellent choix pour une utilisation dans une variété d'environnements de production de semi-conducteurs.
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