Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9152955 à vendre en France

Fabricant
TEL / TOKYO ELECTRON
Modèle
P-8XL
ID: 9152955
Style Vintage: 1998
Automatic wafer prober 1998 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL est un prober hybride conçu par TEL (TOKYO ELECTRON) pour l'essai des semi-conducteurs et l'évaluation des dispositifs. Ce prober avancé est adapté pour caractériser des dispositifs semi-conducteurs haute densité tels que DRAM, SRAM, circuits logiques, cartes à mémoire et autres dispositifs de mémoire. De plus, TEL P8XL est extrêmement fiable et capable de gérer une grande variété de tailles d'appareils, d'exigences de test et de besoins de sondes. TOKYO ELECTRON P8-XL dispose d'un mécanisme parallèle symétrique en 8 étapes, capable de maintenir et de sonder des puces jusqu'à 300mm de diamètre avec une capacité de charge maximale de 5g. Le prober est conçu pour répondre à une faible empreinte, grande enveloppe de sonde, vitesse maximale, et des exigences de temps de réponse rapide. L'étage de sonde est entièrement motorisé avec une vitesse variable et des hauteurs de sonde programmables. Le prober est capable de fonctionner sur une large plage de vitesse, avec une précision de 0,5 μ m. TEL P 8 XL dispose également d'une variété de programmes de sondes avancés, des opérations double face aux tests de contact et de dénudage. Il dispose d'un système de contrôle de contact entièrement automatisé et offre une variété de modes de sondes, y compris un point unique, des points continus, un point de balayage, une erreur d'asservissement et un balayage 2D. P-8 XL est un prober robuste conçu pour être utilisé dans le test des semi-conducteurs et l'évaluation des dispositifs. Avec ses fonctionnalités avancées telles qu'un mécanisme parallèle multi-axes, un étage de sonde motorisé, des programmes de sonde avancés et un système de contrôle automatisé des contacts, il offre des performances fiables et très précises avec une large gamme de tailles d'appareils et des exigences de test. Il convient à un large éventail d'applications ainsi qu'à des volumes de tests élevés.
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