Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9193119 à vendre en France

Fabricant
TEL / TOKYO ELECTRON
Modèle
P-8XL
ID: 9193119
Taille de la plaquette: 5"-8"
Fully automatic wafer prober, 5"-8" Voltage hot chuck: Ni Hi WAPP Probe card cleaning plate & brush Semi automatic card changer Indexer slide loader Wafer prealigner Wafer Table Media handler: Wafer Boards: GPIB VIP3A CPU Interface: Credence quartet tester PTPA Accuracy: +/- 4.0µm PTPA Z Accuracy: +/- 5.0µm Inspections: Ink dot Probe mark Power: 220 V Frequency: 50/60 Hz Current: 7.5 A.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL prober est un prober de contact de plaquettes laser très avancé capable de sonder des exigences de contact strictes sur des technologies de plaquettes avancées. Il est conçu pour la précision et la répétabilité, et utilise un équipement de déflexion optique compact qui permet un balayage de précision avec contrôle de mouvement précis pour des essais rapides de plaquettes. Avec son système d'alignement unique, TEL P8XL prober peut automatiquement aligner tous les sites cibles et effectuer des tests précis et reproductibles des technologies avancées de plaquettes. Il a un taux d'acceptation des plaquettes de plus de 98 %, utilisant une unité de positionnement laser pour aligner précisément la plaquette sur les sondes, minimisant ainsi les erreurs de mesure. TOKYO ELECTRON P8-XL est également capable de sonder et d'analyser des plaquettes en forme de bosses octogonales et fournit aux utilisateurs un balayage de synchronisation de haute précision pour les mesures répétables et un balayage réticulaire à faible latence pour la sondes à contacts multiples. TEL/TOKYO ELECTRON P8-XL dispose également d'un écran LCD couleur à double numérotation haute résolution pour visualiser des images d'échantillons, des statistiques et des données mesurées en mode test natif ou bloc. Sa technologie de pré-alignement au niveau atomique (A-L-PAT) utilise plusieurs caméras, à bord et à l'extérieur, pour assurer un alignement et un étalonnage précis du WAFER et pour maximiser la précision. La position de la filière embarquée peut alors être surveillée et contrôlée jusqu'à 6 axes, y compris X, Y, angle d'inclinaison, puissance laser et correction de l'écart TFR. P8XL utilise une machine à balayage à double faisceau avec un laser et un positionneur micrométrique. Le positionneur laser est utilisé pour sonder et imiter la plaquette, tandis que le micromètre est utilisé pour positionner les sondes et charger la plaquette sur la scène. En outre, P-8XL peut être équipé d'une sonde de contact spéciale conçue pour aider à mesurer les puces semi-conductrices à grande filière et pour cartographier précisément la surface de la plaquette. TEL P-8XL Prober dispose d'un large éventail de capacités et offre des performances, une précision et une répétabilité supérieures pour la détection, l'imagerie et la mesure des plaquettes. Avec ses caractéristiques avancées et ses composants de haute qualité, TEL/TOKYO ELECTRON P 8 XL est capable de répondre aux exigences de test les plus strictes et offre aux utilisateurs les performances et la précision les plus élevées disponibles dans les sondes de plaquettes aujourd'hui.
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