Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9205865 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL est un prober utilisé pour les essais électriques et la sondes de plaquettes semi-conductrices et de composants intégrés. Il a une force de balayage se déplaçant rapidement à travers la surface de l'échantillon, pour l'identification précise et précise des contacts. Les principales caractéristiques de TEL P8XL comprennent un équipement amélioré de détection des marques laser, une reconnaissance avancée des motifs et un mode d'inspection par force de contact ultra-faible (CLF). TOKYO ELECTRON P8-XL dispose d'un système optique unique qui utilise une reconnaissance de ligne laser pour localiser des points de plaquettes ou de motifs IC sur la surface de l'échantillon. Ceci permet un balayage plus rapide et plus précis des plaquettes et composants semi-conducteurs. L'unité de reconnaissance de motifs améliorée de P 8 XL peut acquérir des mesures plus précises à partir de motifs compliqués, permettant un meilleur contrôle de la qualité. La sonde wafer se présente comme une machine mécanique de précision avec un châssis à vide, un appareil de chargement en circuit fermé et un porte-aiguille de sonde. Pour une collecte de données précise, la sonde wafer comprend des contre-mesures statiques-électriques, conçues pour réduire l'électricité statique de chaque sonde et contact. Pour garantir des mesures plus précises, le prober dispose également d'un amortisseur de vibrations et d'un bouclier spécial pour réduire le bruit électromagnétique. P8XL dispose également d'un mode d'inspection CLF avancé qui signifie « Grosse Faible Force ». Cela permet des mesures de contact et des inspections rapides avec une force de contact très faible. Les données provenant des mesures effectuées avec le CLF sont plus fiables et résistent plus efficacement à une température plus élevée en raison de sa faible force de contact. TEL P8-XL est conçu pour des tests de haute précision et de haute précision. Il dispose d'un mode d'inspection à faible force de contact amélioré, d'une reconnaissance avancée des motifs et d'une machine de détection de marques laser unique pour une plus grande précision et une plus grande vitesse. La sonde de wafer est conçue pour travailler avec une variété de wafers semi-conducteurs et de IC, ce qui en fait un outil inestimable dans le processus de production.