Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9281948 à vendre en France

TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL
Fabricant
TEL / TOKYO ELECTRON
Modèle
P-8XL
ID: 9281948
Taille de la plaquette: 8"
Prober, 8".
TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL Prober est un équipement spécialement conçu pour effectuer des mesures de précision sur les composants et circuits électriques. Doté d'une variété de technologies, ce système est bien adapté aux applications de sondes de plaquettes telles que les tests de plaquettes, les tests de fiabilité IC, les tests de rendement IC et les tests TFT (Thin Film Transistor). TEL P8XL Prober dispose d'une unité de commande de mouvement à haute résolution à 6 axes qui permet le mouvement selon les axes X, Y, Z ainsi que les rotations Pitch, Roll et Yaw. Chaque axe est capable de bouger jusqu'à 1 mm/s, offrant une prise en compte à la fois de la précision et de la vitesse. La machine dispose également d'une tête de test automatisée qui met en contact jusqu'à 50 broches à la fois pour effectuer plusieurs mesures simultanément à grande vitesse. TOKYO ELECTRON P8-XL Prober dispose d'un outil électrique de pointe permettant des tests fiables. La haute fréquence de l'actif permet des tests à large bande allant jusqu'à 8 MHz, et la conception à faible bruit permet des mesures avancées de l'intégrité du signal. Il existe également une fonction d'étalonnage intégrée qui garantit des résultats précis. Le modèle prober est également équipé d'une suite logicielle très polyvalente. L'interface utilisateur intuitive permet aux utilisateurs de configurer rapidement et facilement l'équipement même pour les scénarios de test les plus complexes. Le logiciel comprend également des outils de débogage complets pour aider à la résolution rapide des problèmes. Enfin, P8-XL Prober a un design élégant et compact qui s'adapte à pratiquement n'importe quel environnement de laboratoire. Ce système nécessite une maintenance minimale et assure un fonctionnement fiable à long terme. Avec ses capacités de mesure supérieures, TOKYO ELECTRON P-8 XL Prober est une solution fiable et efficace pour les essais et le développement de semi-conducteurs.
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