Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9379922 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL est un prober à haute performance et à commande informatique conçu spécialement pour les essais de dispositifs semi-conducteurs dans divers environnements. Cet équipement offre des performances de sondes et une précision supérieures avec polyvalence et évolutivité pour maximiser le rendement et augmenter la productivité. TEL P8XL utilise un système de positionnement de servocommande (SPS) de précision et de haute résolution pour permettre une exploration rapide et précise des petits appareils. Le SPS est capable de fournir jusqu'à 0,1 µm de précision pour les sondes répétables, fournissant des rendements plus élevés avec moins de résultats de sonde faussement positifs. Cette unité offre également une conception thermiquement stable pour des mesures précises et fiables du point d'extrémité de la sonde. Le prober comprend également une machine de protection de l'air qui aide à maintenir l'air pur autour de la tête de sonde afin de minimiser le risque de contamination due aux particules en suspension dans l'air. L'outil avancé de traitement d'image basé sur l'optique permet d'améliorer la précision de mesure, quel que soit le dispositif testé. Il utilise la reconnaissance d'image pour l'alignement exact de plusieurs types d'appareils avec des résolutions allant jusqu'à 2 μ m. L'actif optique embarqué peut effectuer des mesures multipoints avancées sans matériel supplémentaire. TOKYO ELECTRON P8-XL prend en charge une grande variété d'appareils et de types de paquets, y compris BGA standard, Flip Chip, Bare die, GQFP, QFP, QFN, et d'autres paquets de microélectronique. Il est également compatible avec une gamme de contacteurs de bord et de broches et adaptateurs externes spécialisés pour la sonde haute densité. Ce prober offre également des options programmables avancées pour diverses applications de sondes de périphériques, y compris DC, IV, et des tests de domaine temporel. TEL/TOKYO ELECTRON P8-XL offre des performances de test supérieures pour une grande variété de types d'appareils, avec des résultats précis et reproductibles. Ce modèle offre une plate-forme stable pour détecter les défauts et les caractéristiques des appareils de mesure et est conçu pour réduire les faux positifs, augmenter les rendements et améliorer les performances globales des tests des appareils.