Occasion TEL / TOKYO ELECTRON PR300Z #9251838 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON PR300Z est un prober conçu pour les essais de performance des dispositifs semi-conducteurs. C'est un instrument très précis et fiable pour tester divers paramètres tels que la résistance, la capacité, les signaux RF et d'autres caractéristiques électriques. TEL PR300Z est équipé d'un étage de 6 pouces pour des plaquettes jusqu'à 4 pouces, ainsi que d'un moteur puissant qui peut fournir jusqu'à 1,5 m/s de force de sonde. TOKYO ELECTRON PR-300Z est conçu pour détecter et mesurer avec précision les caractéristiques électriques des dispositifs semi-conducteurs. Il peut mesurer rapidement une variété de caractéristiques électriques telles que la tension, le courant, la résistance, la capacité et les signaux RF. La précision de l'instrument est ± 0,1 % de la gamme complète, de sorte qu'il peut mesurer avec précision les caractéristiques des dispositifs semi-conducteurs avec peu d'erreur. PR-300Z peut être utilisé dans une grande variété d'applications. Il sert à mesurer les paramètres des dispositifs semi-conducteurs sur les plaquettes, à contrôler les processus de fabrication des semi-conducteurs et à tester les dispositifs fonctionnels à bord. Il est également utilisé dans l'analyse des défaillances, la qualification des produits et la conception et l'évaluation des dispositifs semi-conducteurs. Il peut également être utilisé à des fins de recherche et de développement. En termes de caractéristiques, TEL PR-300Z est livré avec un système d'alignement de sonde optique avancé pour des mesures précises et une précision améliorée. Il est également équipé de plaquettes à vide de haute précision pour une adhérence accrue sur la plaquette lors des essais ou des sondages. En outre, il est équipé d'un système d'auto-alimentation avancé pour l'insertion facile des plaquettes et l'augmentation du débit. En outre, il dispose d'un environnement blindé RF pour protéger contre l'IME et d'autres bruits environnementaux. TOKYO ELECTRON PR300Z est un instrument extrêmement polyvalent pour tester des dispositifs semi-conducteurs pour diverses applications. Il est fiable, précis et capable de mesurer rapidement les paramètres des dispositifs semi-conducteurs. Il possède également plusieurs caractéristiques avancées, telles que l'alignement de la sonde optique, des plots à vide et un système d'alimentation automatique. Ces caractéristiques en font un excellent choix pour tester et mesurer les dispositifs semi-conducteurs.