Occasion TEL / TOKYO ELECTRON Precio Octo #9362671 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON Precio Octo est un spécialiste en métrologie et inspection des semi-conducteurs Prober. Il est spécifiquement conçu pour inspecter les plaquettes et composants semi-conducteurs avec une grande précision. TEL Precio Octo est équipé de trois technologies différentes pour la mesure des semi-conducteurs : métrologie optique, mesure par résonance paramagnétique électronique (EPR) et microscopie à force magnétique (MFM). La métrologie optique permet de mesurer avec précision les caractéristiques de la plaquette à l'aide d'une optique avancée. Avec l'équipement LWIR de TOKYO ELECTRON Precio Octo, il est capable de mesurer de petites structures micro-géométriques avec une précision égale ou supérieure à 5nm. Cette technologie est particulièrement utile dans les applications de mesure à haute densité, où la précision est essentielle. Les mesures EPR sont essentielles pour déterminer les propriétés électriques d'un matériau. Precio Octo utilise une sonde UFH radiofréquence pour mesurer les propriétés électriques et optiques du matériau à différentes températures avec une précision élevée de 2 microns/2 %. Ce système est capable de mesurer avec précision la concentration en dopant, la densité des défauts, la longueur de diffusion et d'autres propriétés électriques. La technologie MFM fournit l'image la plus détaillée de la surface de la plaquette. TEL/TOKYO ELECTRON L'unité MFM de Precio Octo a une résolution de 10-20nm et une précision de mesure de 3nm, ce qui permet d'effectuer des mesures ultra-précises. Avec sa plage de forces de 0.25-25N, la machine est capable de mesurer avec précision la topographie de surface de la plaquette. TEL Precio Octo est un appareil de métrologie et d'inspection à semi-conducteurs de pointe, conçu pour des applications d'inspection et de mesure avec les exigences de précision les plus élevées. Sa combinaison de technologies avancées de métrologie optique, EPR et MFM fournit un niveau de précision inégalé, permettant aux utilisateurs d'inspecter et de mesurer de manière fiable les composants semi-conducteurs.