Occasion TEL / TOKYO ELECTRON Precio #293770056 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON Precio est un prober conçu pour l'essai des plaquettes et la surveillance des processus de production. C'est un équipement hautement intégré qui combine un pas de plaquette, un ensemble de carte à mandrin et sonde, un système de contrôle basé sur PC, et une unité d'inspection optique CCD. La machine comprend des capacités d'inspection et de mesure pour les plaquettes minces jusqu'à 5 pouces de diamètre et permet une caractérisation électrique, physique et thermique précise des dispositifs. L'outil dispose d'un design de prober propriétaire avec un mécanisme pas à pas intégré. Ceci permet un mouvement de précision du mandrin et de la carte de sonde, ce qui permet des mesures précises sans effort extérieur, tel que l'appui du mandrin contre le mandrin. De plus, le mécanisme pas à pas minimise également le nombre de fois que la plaquette doit être déplacée pour mesurer les paramètres du dispositif. L'actif dispose également d'un modèle d'inspection optique très précis, permettant une inspection microscopique de la surface de la plaquette. L'équipement a une résolution de 8 um, qui peut être utilisé pour inspecter les structures de l'appareil et d'autres caractéristiques, y compris les couches de couches minces, les plots de contact, les joints de soudure, et plus encore. En outre, le système dispose d'une fonction de contrôle thermique intégrée, permettant aux utilisateurs de contrôler précisément l'environnement thermique des plaquettes pendant le processus de mesure. Le contrôleur basé sur PC fournit une interface facile à utiliser avec les entrées de données nécessaires, permettant aux utilisateurs d'établir des mesures et de recueillir des données rapidement. Il fournit également une série d'outils d'analyse, permettant aux utilisateurs d'évaluer les données recueillies auprès de l'unité et de produire des rapports très précis. La machine est conçue pour fonctionner avec une variété de types de plaquettes, y compris l'arséniure de gallium (GaAs), le silicium (Si) et le phosphure d'indium (InP). Avec sa conception flexible, il est capable de mesurer la résistance de contact, le courant de fuite, les caractéristiques du dispositif, la réponse thermique et d'autres propriétés du dispositif. La conception avancée et les fonctionnalités logicielles de l'outil permettent des mesures très précises et fiables.