Occasion TEL / TOKYO ELECTRON Precio #293806769 à vendre en France

ID: 293806769
Wafer prober Nickel plated chuck Ambient temperature 480SQ Head plate WAPP Remote touch screen Interface: GPIB FOUP Loader, 12" Cassette, 8".
TEL est un prober conçu pour les applications de sondes de plaquettes. C'est une station de sonde semi-automatisée qui facilite le contrôle précis des plaquettes et autres composants semi-conducteurs. Le prober est conçu avec un étage de mouvement XY, un mouvement Z-axe de haute précision, et un équipement de balayage à grande vitesse pour accueillir une multitude de tâches de sonde de plaquettes. De plus, le prober comprend un système de commande à moteur à trois essieux à faible vibration afin d'assurer une précision maximale lors des opérations de sondes. L'unité offre également une variété de fonctionnalités pour soutenir les opérations automatisées de sondes et de tests des plaquettes. Il a été conçu avec une combinaison de circuits numériques et de circuits d'interface analogiques pour fournir une détection précise des plaquettes et une manipulation précise des panneaux de plaquettes. Cela lui permet de fonctionner avec une grande variété de plaquettes, y compris standard, CNA (Corner Notch Alignments), tailles non standard, ainsi que divers substrats non plats. La machine permet également un fonctionnement à haute fréquence jusqu'à quatre mégaoctets. Cela garantit que les essais et les sondages des plaquettes sont effectués avec la précision requise pour s'assurer de l'exactitude des résultats des essais. La conception conviviale de l'outil permet aux utilisateurs de configurer une large gamme de séquences de sonde pour la recherche de plaquettes. Il intègre également des fonctions de sécurité et de surveillance pour aider à prévenir les dommages aux plaquettes. En outre, le prober est livré avec quatre étapes de réplication pour la mise en scène d'échantillons. Cela offre aux utilisateurs des options de placement flexibles pour différentes tailles et orientations de plaquettes. De plus, l'actif comprend des capacités d'auto-match qui permettent aux utilisateurs de localiser et d'identifier rapidement un emplacement de puce dans la plaquette. Cela permet de s'assurer que le résultat de test le plus précis est obtenu. Le prober dispose également d'un environnement de processus flexible avec diverses options d'acquisition de données telles que l'alignement des plaquettes, la compensation des désalignements, la mesure de l'intégrité du signal, la collecte de données thermiques, etc. De plus, ce prober est certifié conforme aux exigences des essais EIA-JESD-228. C'est une norme pour tester des produits de compatibilité électromagnétique. Dans l'ensemble, TOKYO ELECTRON prober est conçu pour des applications de sondes de plaquettes avec un accent sur la précision et la précision. Il offre une variété de caractéristiques pour fournir une détection précise des plaquettes et une manipulation précise des panneaux de plaquettes. Le modèle dispose également d'un environnement de processus flexible pour répondre à diverses applications telles que l'alignement des plaquettes, la compensation des désalignements, la mesure de l'intégrité du signal, la collecte de données thermiques, etc. En outre, on certifie aussi qu'il est conciliant avec les exigences d'essai d'EIA-JESD-228.
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