Occasion TEL / TOKYO ELECTRON Precio #293820668 à vendre en France

ID: 293820668
Style Vintage: 2006
Wafer prober 2006 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON Precio est un équipement de prober haute performance au diamant dopé à l'azote et recristallisé conçu pour répondre aux exigences strictes des essais de circuits intégrés haute densité (IC) et de dispositifs à mémoire. Il dispose d'une technologie unique de coupe de diamant multi-niveaux, ce qui le rend adapté à une grande variété d'applications de test IC. Le système utilise la technologie Nitrigen Diamond Cutting Technology (NDCT), un procédé breveté développé par TEL Precio. Cette technologie est basée sur la production de structures diamantaires au niveau du nanomètre avec dopage à l'azote qui améliore la dureté de la structure diamantaire. Cela garantit que les broches de sonde maintiennent leur forme et leur uniformité tout au long du processus de sonde et fournit le plus haut niveau de précision et de fiabilité aux fins d'essai. L'unité utilise une configuration double brevetée pour assurer l'intégrité de la structure en diamant pendant le processus de sondage. Il comprend un étage laser de haute précision qui contrôle avec précision la position du prober et un étage diamant thermo-contrôlé qui contrôle la température de la sonde. Les deux étapes sont conçues pour maintenir la structure en diamant pendant les essais et pour éliminer le désordre thermique des broches d'essai. La machine est capable de tester une variété d'IC et de dispositifs de mémoire, des SRAM haute densité aux microprocesseurs complexes. Il peut également être utilisé pour tester divers types d'ASIC et de composants MEMS. Il est compatible avec tous les types d'IC et de dispositifs de mémoire ainsi que de nombreux types différents d'appareils tels que les appareils numériques logiques, analogiques et RF. Le prober est conçu pour répondre aux exigences de test les plus difficiles des IC et des dispositifs de mémoire, des ultra-hautes fréquences aux tests de haute puissance. Il est capable de tester un large éventail d'IC allant des appareils de bas ordre aux appareils de haut rang, ainsi que les dispositifs SMD (Surface Mounted Device) et CSP (Chip Scale Packaging). Il est capable de fournir divers types de résultats de sondages tels que la tension, le courant, la puissance et la température, ainsi que d'être équipé de fonctionnalités supplémentaires telles que l'enregistrement de données en temps réel, qui peuvent être utilisés pour analyser les résultats et effectuer l'analyse de défaillance. Dans l'ensemble, TOKYO ELECTRON Precio est un outil puissant et fiable conçu pour répondre aux exigences complexes actuelles en matière de tests d'IC et de dispositifs de mémoire. Grâce à sa technologie avancée de coupe du diamant et à son étage de diamant thermo-contrôlé, ainsi qu'à sa capacité à tester une variété d'IC et d'appareils à mémoire avec une grande précision et fiabilité, l'actif fournit une solution idéale pour toute application de test IC.
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