Occasion TEL / TOKYO ELECTRON WDF DP #293597245 à vendre en France

TEL / TOKYO ELECTRON WDF DP
ID: 293597245
Prober VIP3 CPU Board Single auto loader Ambient chuck Configured for DISCO frames.
TEL/TOKYO ELECTRON WDF DP est un prober fabriqué par TEL qui est utilisé pour tester des dispositifs semi-conducteurs. Le prober est composé d'un prober automatique auto-alignant, d'un gabarit de support, d'un flaper de tête et d'un contrôleur C3. Le prober auto-aligneur est conçu pour déplacer la poignée et effectuer l'alignement et la sonde avec précision et rapidité. Le prober a 15 axes, cinq étages et une capacité de charge de 25kg. Il est capable de réaliser des processus complexes comme l'alignement, le test et le déchargement. Il peut également être utilisé pour une variété de stratégies comme la boucle, linéaire, vecteur, et porte. Le gabarit d'appui sert à appuyer le processus de vérification. Il possède un piston à ressort, une orientation réglable de l'encoche et des pieds mobiles. Le piston est utilisé pour exercer une force lors de la sonde des dispositifs. L'orientation de l'encoche assure un positionnement précis de la pointe de la sonde vers le dispositif. Les pieds sont réglables pour s'assurer que le probère est plat et bien aligné. Le flaper de tête est utilisé pour basculer entre différents sites sur le dispositif. Cela permet un passage rapide et précis entre les sondes. Le contrôleur C3 est le composant principal du prober. Ce contrôleur effectue l'acquisition et le traitement des données, ainsi que le contrôle de toutes les opérations de la machine, en fonction de la recette programmée. Il possède de nombreuses fonctionnalités comme le protocole à la volée, la configuration en cascade, la boucle de contrôle et le traitement par lots. Dans l'ensemble, TEL WDF DP prober est conçu pour la précision et la fiabilité. Il est efficace et polyvalent et peut être utilisé pour le processus de sondage manuel et automatisé. Il peut être utilisé pour effectuer diverses opérations telles que des essais de pipelines, des essais de lots impairs, des essais parallèles et des tests de mots.
Il n'y a pas encore de critiques