Occasion TSE / MPI LEDA-6SFA #9395487 à vendre en France

Fabricant
TSE / MPI
Modèle
LEDA-6SFA
ID: 9395487
Style Vintage: 2008
Semi-auto wafer prober 2008 vintage.
TSE/MPI LEDA-6SFA est un capteur de contact/sans contact conçu pour les essais automatisés de contact au niveau de la matrice ou de l'emballage des appareils électroniques. Cette technologie de pointe offre une gamme complète d'applications, y compris l'interface d'essai, l'essai de contact, l'essai du niveau de la matrice, l'essai final du navire, l'analyse de sondes, l'insertion et l'élimination des modules, les essais fonctionnels et de contact, les essais de gravure et de simulation, le contrôle d'autofocus, l'évaluation de la précision des contacts à grande vitesse, les essais de stress et de cycle de contact et les essais de choc thermique. EST LEDA-6SFA conçu pour répondre aux normes industrielles de qualité et de précision dans l'industrie des semi-conducteurs. Le modèle est un équipement entièrement automatisé qui offre un étage complet à six axes pour le test de niveau de filière des plaquettes et d'autres produits électroniques. Le modèle est équipé d'un système intégré de détection de contact, d'un système de détection de contact et d'un système automatisé de transfert de plaquettes contrôlé par un contrôleur CNC de pointe. Comme avantage supplémentaire, il peut également être équipé d'un large éventail de mécanismes de sondage pour répondre aux besoins d'applications spécifiques. Le modèle permet l'alignement manuel et le contrôle autofocus. MPI LEDA-6SFA dispose d'une précision de taille d'échelon de 2,85 μ m, d'un débit de données de 10 MHz et d'une précision de test supérieure. En outre, il dispose également d'une capacité de choc thermique haute vitesse, ce qui permet de tester rapidement jusqu'à 100 plaquettes à la fois. La conception intègre également la technologie d'isolateur la plus récente, garantissant que tout bruit électrique induit par les dispositifs ou équipements adjacents n'interfère pas avec le processus d'essai. LEDA-6SFA offre également une gamme complète de capacités de test, y compris des tests fonctionnels intégrés, des tests de contact, des tests Wi-Fi, des tests de caméra, des tests IC, des tests sur disquettes et des protocoles de test OEM. Ces fonctionnalités permettent une plate-forme de test complète en une seule unité intégrée. TSE/MPI LEDA-6SFA est équipé d'une configuration de machine unique, permettant son utilisation pour diverses applications. Dans l'ensemble, TSE LEDA-6SFA est une technologie avancée de prober, conçue pour répondre aux normes élevées de l'industrie des semi-conducteurs. Avec sa précision supérieure, une large gamme de capacités de test, et une gamme complète d'applications, il est une solution idéale pour le test contact/sans contact des appareils électroniques.
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