Occasion VEECO / DEKTAK AP 150 #9228646 à vendre en France

VEECO/DEKTAK AP 150 est un profileur portatif polyvalent de haute précision capable de mesurer des hauteurs de pas à 1 nanomètre pour le traitement des semi-conducteurs et la métrologie des dispositifs. Il est conçu avec une sensibilité accrue et des fonctionnalités avancées pour effectuer des mesures de surface non destructives et des opérations de profilage pour l'interconnexion des détecteurs de niveau de puce, la bosse et la métrologie des puces de flip. VEECO AP 150 est équipé d'une lentille de zoom télécentrique pour permettre des mesures précises des bords de caractéristiques, des hauteurs de pas et d'autres paramètres de topographie de surface. Sa grande plage de zoom télécentrique lui permet d'afficher et de mesurer des caractéristiques jusqu'à 1nm en hauteur totale DEKTAK AP 150 utilise deux axes de balayage vertical et un horizontal pour fournir une grande distance de travail avec une largeur maximale de champ d'image de 250mm. En outre, il est équipé d'une résolution verticale de 180 nm et horizontale de 0,75 nm et d'une vitesse de balayage maximale de 1,5 mm/seconde. Il est également livré avec un système de communication port USB et peut être connecté à un moniteur externe pour l'affichage. AP 150 est utilisé pour la métrologie de plaquettes et de puces semi-conductrices, ainsi que pour la caractérisation de dispositifs multicouches, et est capable de mesurer des caractéristiques et des structures nanométriques sur divers substrats. Cela permet de l'utiliser pour diverses applications telles que le MEMS et la conception microélectronique. Il est également bien adapté pour la mesure de surfaces de sous-microns, pour les applications de microscopie électronique à balayage (SEM), et pour la microscopie par sonde à balayage (SPM). Le dispositif offre également des performances améliorées telles que des mesures répétables, l'éclairage bleu, la détermination d'échantillons sans contact, et la stabilité à long terme grâce au contrôle automatique du filtre. De plus, le système de sélection d'échantillons sans contact empêche le balayage d'artefacts provoqués par une contamination de surface. En outre, il est également compatible avec divers systèmes de transfert et de chargement sous vide pour élargir sa gamme d'applications. En un mot, VEECO/DEKTAK AP 150 est une option fiable, précise et polyvalente pour la métrologie de précision et le profilage de surface non destructif. Il offre une combinaison puissante de caractéristiques qui en fait un choix idéal pour un large éventail d'applications dans des domaines tels que la métrologie des plaquettes, la caractérisation des dispositifs semi-conducteurs et la conception MEMS et microélectronique.