Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS Endura II Aluminum Interconnect #9392312 à vendre en France

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ID: 9392312
Physical Vapor Deposition (PVD) System, 12" Process: Reflowsput Chamber Position C- Process type reactive PC Process type SIP Ti: 1 And 5 Process type ALPS: 2 HT Al: 3 And 4 D - RT DSTTN Process Type: Reactive PC Chamber position: C Chamber body: Al Part number: 0040-76718 Slit valve Seal: Bonded Door part number: 0040-84391 Bias Generator Frequency: 13.56 MHz and 2 MHz(In one generator) RF: Coil generator: COMDEL CDX-2000 Match box: 0010-21748 / 0010-52033 AMAT / APPLIED MATERIALS Part number : 0190-23308 Adaptor part/number: 0041-02659 Upper shield part/number: BELLJAR 0040-55456 Treatment (Arc spray / bead blast): AL2O3 Lower shield part/number: 0040-86514 Treatment (Arc spray / bead blast): Bead Blast inner / mid shield part/number: 0021-19342 Shield clamp part/number: 0020-19258 Inner / mid shield clamp part/number: Insulator 0200-01903 Cryo gate valve (2/3 Pos): PENDULUM MFC 1 Gas: He Cal Factor: 1 Size: 300 Type: He Part number: 0010-44160 MFC 2 Gas: Ar2 Cal Factor: 1 Size: 200 Type: Ar Part number: 3030-13113 MFC 3 Gas: A Cal Factor: 1 Size: 20 Type: Ar Part number: 3030-13116 MFC 4 Gas: (MFC6) H2 Cal Factor: (MFC6) 1 Size: (MFC6) 100 Type: (MFC6) H2 Part number: (MFC6) 0015-02990 Chamber base pressure (T): 0.0000002 Chamber Rate of rise (nTorr / min): 15000 Process Ar supply pressure: 34.7 Process N2 supply pressure: 33.9 Vent Ar pressure: 47.7 Optional Gas (He): 30.1 CDA: 95.7 Slit valve CDA: 85 Cooling water flow (GPM): 0.8 Process type: SIP Ti Chamber position: 1,5 Shutter option chamber body: (Al or SST): SS Part number: 0040-98657 Slit valve: Seal: Bonded Valve door part number: 0040-84391 Target: Vendor: Nikko/Tosoh Bakeout / idle power (%): 0.4 DC Power supply (AE-MDX): AE-Pinnacle AMAT Part number Master: 0190-08122 AMAT Part number Slave: 0190-08122 Generator size : 20kw DC (12 kwh, 24kwh): 40 kw Bias generator : ENI - GHW12Z AMAT Part number : 0190-25529 Bias Generator: Size: 1.25KW Frequency: 13.56 MHz Rf Match Box: 0010-02372/0010-52034 Magnet: Rotation speed (RPM): 65 Shim thickness: Ch1:1.25mm Ch5:1.0mm Type: LP-3.7.4 Part number: 0010-11228 Target to magnet spacing (mm): 1.5 ± 0.6 Adaptor part number: 0040-82921 Kit spacer: Upper part number: 0040-7694 Lower part number: 0040-62877 Upper shield part number: 0020-23549 Treatment: (Arc spray/Bead Blast): Arc Spray (Arc spray/Bead Blast): Bead Blast Lower shield: Part number: 0020-02344 Clamp part number: 0020-02348 Inner / mid shield: Part number: 0020-54777 Clamp part number: 0020-08299 Dep ring part number: 0200-08301 Cover ring part number: 0021-17770 Insulator bushing part number: 0200-00590 Shutter: 0021-25014 Pedestal: Type: SLT FDR E-CHUCK Part number: 0010-22985 Heater spacing in steps: -55050 Maximum Cryo regen gas load (L): 400 Cryo gate valve (2/3 Pos): 3-Position MFC 1: Gas: N2 Size: 200 Type: N2 MFC 3: Gas: Ar Size: 50 Type: Ar MFC 4: Gas: ArH Size: 20 Chamber base pressure (T): 2.0 e-8 Chamber Rate-of-Rise (nTorr / min): 522 Process supply pressure: Ar 30psi N2 30psi Cryo regen N2 pressure: 90 Vent Ar pressure: 40 CDA: 88 Slit valve CDA: 82 Cooling water flow (GPM): 8.9 Vent Ar pressure: 47.7 Lower shield part number: 0021-22065 Upper shield part number: 0021-21234 Process type: (RT DSTTN) Chamber position: D Heater spacing: 55mm Steps: -51000 Optional gas (He): 37.9 CDA: 95.7 Cooling water flow (GPM): 11.2.
AMAT/APPLIED MATERIALS Endura II Aluminum Interconnect (AMAT) intègre un design unique qui est spécifiquement conçu pour la production d'interconnexions à base d'aluminium. Ce réacteur est utilisé dans le développement de semi-conducteurs avancés et de dispositifs optoélectroniques. C'est un équipement idéal pour les technologies telles que les transistors à effet de champ organique (OFET) et les diodes électroluminescentes organiques (OLED). AMAT Endura II Aluminum Interconnect dispose d'un procédé de gravure anisotrope qui assure des interconnexions précises. Ceci est possible grâce au fonctionnement combiné d'une source de plasma à couplage inductif (ICP) et d'une source de plasma à basse pression qui permet la gravure de traces métalliques à haut rapport d'aspect avec des bords perpendiculaires, une faible résistance au contact et aucune perte excessive de métal. La source du PCI est combinée à une chambre de procédé résistive, basse pression, filtrée Ar-Cl2 (argon-chlore), avec un système intégré de régulation dynamique de la température, contrôlé par ordinateur. Cette combinaison fournit un traitement de liaison de précision, qui est capable de produire des caractéristiques de rapport d'aspect élevé, sans perte excessive de métal. Il est également équipé de l'unité Dynamic Pressure Control (DPC), qui garantit que les conditions de processus sont optimisées pour un meilleur contrôle des processus et une meilleure reproductibilité des conceptions d'interconnexions. Cette machine dispose également d'une interface utilisateur graphique moderne qui peut être utilisé pour contrôler les paramètres du processus. Il peut également importer et exporter des fichiers GDSII, permettant la conversion de conceptions existantes en format d'interconnexion APPLIED MATERIALS. Avec la possibilité de supporter la couverture et le contrôle de la couche angulaire via des commandes intuitives, une large gamme de plaquettes de processus peut être produite. MATÉRIAUX APPLIQUÉS Endura II Aluminum Interconnect dispose également d'une technologie Filtered-Via qui est capable d'interconnexions à basse température avec une meilleure planéité et une faible résistance intrinsèque au contact. Cette fonctionnalité est supportée par un outil automatisé d'injection de polymère à basse température pour le filtre via des interconnexions. En conclusion, Endura II Aluminum Interconnect (AMAT/APPLIED MATERIALS) fournit une solution intégrée, précise, de haute productivité et peu coûteuse pour la production d'interconnexions avancées à base d'aluminium. Sa capacité à produire des traces métalliques à haut rapport d'aspect avec des bords perpendiculaires, une faible résistance au contact et aucune perte excessive de métal en fait un choix idéal pour les technologies optoélectroniques et semi-conductrices de nouvelle génération.
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