Occasion ABT EM-0028 #9203988 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage ABT EM-0028 est un appareil de microscopie électronique à balayage sous vide (SEM) capable d'imagerie sous-nanométrique à résolution. Il est conçu pour une grande variété d'applications, y compris les études en sciences des matériaux, l'analyse des dispositifs semi-conducteurs, les sciences biologiques, les nanomatériaux et la criminalistique. L'optique électronique de l'EM-0028 a été spécialement conçue pour fournir des performances de faisceau supérieures et pour maximiser ses capacités d'imagerie. En outre, le système est également capable de produire des spectres de rayons X de haute qualité dans les deux modes d'électrons rétrodiffusés (ESB) et secondaires (SE). L'unité dispose également d'une large gamme de réglages d'énergie de faisceau utilisant un détecteur de détection directe (EDS). Cela permet une imagerie de haute qualité, faible bruit à des grossissements plus élevés. ABT EM-0028 utilise une conception avancée de colonne qui a été optimisée pour le fonctionnement à ultra-haut vide. Ceci permet d'utiliser des étages d'échantillons sans coatingless pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de matériaux non conducteurs. De plus, la machine comporte un étage 3 axes qui permet une plus grande précision de position et de rotation. Cela permet d'identifier et d'analyser avec précision les caractéristiques des surfaces enduites et non enduites. EM-0028 est équipé d'une source d'électrons à cathode froide ultra-lumineuse qui permet d'améliorer la résolution et de réduire les densités de courant du faisceau. L'outil est également capable de produire des spectres optimisés à tout grossissement souhaité. En outre, l'actif est équipé d'un logiciel de contrôle de machine puissant qui permet à l'utilisateur de manipuler des images et de les analyser en temps réel. La suite logicielle fournie avec le modèle comprend également un ensemble d'interfaces utilisateur graphiques (GDF) qui facilitent le contrôle et le fonctionnement de l'équipement. En bref, ABT EM-0028 Scanning Electron Microscope est un puissant système SEM capable de produire des images étonnamment détaillées à résolution sub-nanométrique. L'unité offre aux utilisateurs des performances supérieures et un fonctionnement très flexible pour une large gamme de grossissements. L'optique bien conçue de la machine, l'outil ultra-sous-vide, la source d'électrons cathodiques froides et sa puissante suite logicielle de contrôle de machine en font un instrument idéal pour diverses applications d'imagerie et d'analyse.