Occasion ADE / KLA / TENCOR 8100 #194458 à vendre en France

ADE/KLA/TENCOR 8100 Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil d'imagerie avancée à haute résolution pour une large gamme d'applications de caractérisation des matériaux. ADE 8100 a été conçu pour fournir des capacités d'imagerie et d'analyse avancées avec une résolution maximale de 3nm et un grossissement maximal de 5.000x. Il dispose d'une chambre basse dépression réglable pour le chargement et le déchargement automatisés des échantillons, permettant une imagerie et une analyse rapides. Il dispose également de technologies de détection avancées avec un bruit de fond ultra bas, ainsi qu'un étage d'échantillonnage motorisé à cinq positions pour l'imagerie et l'analyse de précision. KLA 8100 est capable de techniques d'imagerie avancées, telles que l'imagerie par faisceau d'ions focaux (FIB), l'imagerie par électrons rétrodiffusés (ESB) et l'imagerie par électrons secondaires (SE). Ces techniques offrent des capacités d'imagerie et d'analyse supérieures lors de l'étude de la surface ou des processus physiques et chimiques individuels dans un matériau. Il est également capable d'effectuer des analyses élémentaires, telles que l'EDX et la spectroscopie aux rayons X, pour identifier avec précision la composition élémentaire et la décomposition chimique au sein d'un échantillon. TENCOR 8100 fournit également des modes d'imagerie automatisés à demi et sans contact pour des grossissements allant de 10x à 5000x. Cela permet d'étudier de plus grandes zones d'échantillonnage sans qu'il soit nécessaire d'ajuster manuellement l'étape de l'échantillon. La gamme de capacités d'imagerie et d'analyse et les résolutions fournies par 8100 en font l'outil idéal pour l'étude des matériaux et de leurs propriétés au niveau moléculaire. En outre, ADE/KLA/TENCOR 8100 comprend une interface utilisateur graphique (GUI) qui peut fournir une analyse en temps réel des images et des données de sortie. L'ADE 8100 comprend également une variété de modules d'imagerie automatisés, tels que l'imagerie SEM et FIB, l'analyse EDS et EBSD, et l'analyse XAS et XRD. La combinaison de ces caractéristiques fait de KLA 8100 un outil idéal pour la recherche, le diagnostic et l'analyse d'un large éventail de matériaux.