Occasion AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / VERIGY / ADVANTEST E3620 #293684639 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/VERIGY/TIREEST E3620 est un instrument d'analyse sophistiqué conçu pour l'imagerie et l'analyse à haute résolution de divers échantillons à l'échelle nanométrique. Ce SEM polyvalent intègre des technologies et des caractéristiques de pointe pour fournir aux chercheurs et aux scientifiques une imagerie précise, une analyse élémentaire et une caractérisation morphologique de surface. Au cœur de HP E3620 SEM se trouve une source de faisceau d'électrons qui émet un faisceau focalisé d'électrons sur la surface de l'échantillon. Le faisceau d'électrons interagit avec les atomes de l'échantillon, générant des signaux tels que des électrons secondaires, des électrons rétrodiffusés et des rayons X caractéristiques. Ces signaux sont ensuite détectés et traités pour créer des images détaillées et analyser la composition élémentaire de l'échantillon. VERIGY E3620 SEM offre une gamme de modes d'imagerie, y compris l'imagerie électronique secondaire, l'imagerie électronique rétrodiffusée et l'imagerie compositionnelle. L'imagerie électronique secondaire fournit des images haute résolution avec des détails de surface, tandis que l'imagerie électronique rétrodiffusée offre un contraste basé sur les différences de numéro atomique dans l'échantillon. L'imagerie par composition utilise la détection des rayons X pour cartographier la distribution élémentaire au sein de l'échantillon. Un des avantages clés d'ADVANTEST E3620 SEM est sa haute résolution spatiale, typiquement dans la gamme de quelques nanomètres. Ce niveau de résolution permet aux chercheurs d'examiner les caractéristiques de surface fine, les nanostructures et les défauts des matériaux avec une clarté exceptionnelle. De plus, AGILENT E3620 SEM offre une large gamme de grossissements, de faibles à hauts, pour accueillir divers types et tailles d'échantillons. HEWLETT-PACKARD E3620 SEM est équipé de détecteurs avancés et de capacités de traitement du signal qui améliorent la qualité de l'imagerie et les capacités d'analyse. Les options de détection peuvent inclure des détecteurs Everhart-Thornley pour l'imagerie électronique secondaire, des détecteurs à l'état solide pour l'imagerie électronique rétrodiffusée et des spectromètres dispersifs d'énergie pour l'analyse des rayons X. Ces détecteurs permettent une collecte et un traitement efficaces du signal, conduisant à des images de haute qualité et à des résultats précis d'analyse élémentaire. En plus de l'imagerie et de l'analyse élémentaire, E3620 SEM peut également soutenir d'autres techniques avancées telles que la lithographie des faisceaux d'électrons, la diffraction électronique et la diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD). Ces techniques permettent aux chercheurs d'explorer plus avant les propriétés structurales et cristallographiques des matériaux, faisant d'AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/VERIGY/TIREEST E3620 SEM un outil précieux pour un large éventail d'applications en science des matériaux, nanotechnologie, géologie, biologie et analyse des semi-conducteurs. HP E3620 SEM est exploité grâce à une interface logicielle conviviale qui permet aux chercheurs de contrôler les paramètres d'imagerie, d'effectuer des analyses et de générer des rapports facilement. Le logiciel peut également comprendre des outils de traitement d'image, des algorithmes d'analyse quantitative et des fonctionnalités d'automatisation pour rationaliser les flux de travail et augmenter la productivité. De plus, le système SEM est conçu pour être robuste, fiable et facile à entretenir, assurant une performance uniforme et une stabilité à long terme dans les environnements de recherche. Dans l'ensemble, VERIGY E3620 SEM est un outil puissant pour l'imagerie haute résolution et l'analyse des micro et nanostructures. Avec ses capacités avancées, interface facile à utiliser et adaptabilité dans les applications, ADVANTEST E3620 SEM est un instrument essentiel pour les institutions de recherche, les universités et les laboratoires industriels cherchant à explorer et comprendre le matériel au niveau de nanoéchelle.