Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS 7830 #9384839 à vendre en France

AMAT / APPLIED MATERIALS 7830
ID: 9384839
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
AMAT/APPLIED MATERIALS 7830 est un microscope électronique à balayage, ou SEM, qui est utilisé pour l'imagerie haute résolution et l'analyse des contours de surface d'une variété de matériaux. Il est équipé d'une gamme de détecteurs et d'une source d'électrons FEG (field emission gun). Cela lui permet de produire des images haute résolution avec une plage de grossissement de 10 × à 20 000 ×. De plus, il possède des capacités avancées pour analyser la microstructure, l'épaisseur des couches minces et la composition des matériaux à l'échelle nanométrique. Les composants de base de l'AMAT 7830 SEM comprennent la source d'électrons et une variété de détecteurs. Sa source d'électrons robuste permet une excellente résolution d'image, la luminosité et le contraste et supporte l'imagerie haute résolution sur une grande variété de matériaux, y compris les matériaux inorganiques et organiques. Grâce à ses différents détecteurs, APPLIED MATERIALS 7830 peut détecter des différences significatives dans la topographie de différents matériaux, détectant même des caractéristiques très fines comme les petites particules et les microstructures. Il propose également une imagerie par électrons rétrodiffusés (ESB), utilisée pour analyser l'épaisseur des couches minces, et une analyse par rayons X dispersive d'énergie (EDX), qui peut fournir des informations sur la composition élémentaire du matériau étudié. 7830 a des caractéristiques qui profitent à la fois de ses performances et de sa facilité d'utilisation. Son interface numérique et sa capacité d'affichage de contraste de phase le rendent facile à utiliser, tandis que son optique intégrée et sa détection contrôlée par ordinateur permettent un contrôle précis des paramètres d'imagerie. De plus, le SEM dispose d'un autofocus haute vitesse et de la capacité de stocker des données d'image pour une comparaison ultérieure. Il dispose également d'un étage automatisé pour un positionnement précis de l'échantillon et un mouvement précis de l'axe des z pour une qualité d'image maximale. AMAT/APPLIED MATERIALS 7830 est un outil polyvalent pour étudier les structures nanométriques d'une grande variété de matériaux. Son imagerie haute résolution, son étage automatisé et son large éventail de détecteurs en font un moyen efficace d'analyser les couches minces et autres microstructures à l'échelle nanométrique. AMAT 7830 est un choix idéal pour les chercheurs à la recherche d'un SEM fiable et polyvalent.
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