Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS Opal 7830 #9124324 à vendre en France

AMAT AMAT/APPLIED MATERIALS Opal 7830 Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil d'imagerie et d'analyse haute performance utilisé pour l'observation, l'imagerie et l'analyse de divers types d'échantillons, y compris des échantillons semi-conducteurs, biomédicaux, des matériaux et industriels. Cet instrument est un choix idéal pour l'analyse complexe des défaillances, la recherche sur les matériaux et les applications de microscopie. Il dispose d'un mode à vide faible étendu (VLE), qui permet l'imagerie d'échantillons dans des atmosphères non évacuées, telles que l'air ambiant ou des échantillons gazeux. Ce microscope électronique a un type de balayage, détecteur d'image électronique secondaire automatisé (SEI), pour l'acquisition d'images haute résolution à la vitesse la plus élevée possible. D'autres capacités d'imagerie et d'analyse avancées comprennent la cartographie automatisée de la résolution spatiale, l'imagerie spectrale et le traitement du signal. AMAT Opal 7830 Scanning Electron Microscope est capable de collecter un large éventail de types de signaux, y compris les électrons rétrodiffusés (ESB), les électrons secondaires (SE), le schlieren, la cathodoluminescence (CL) et la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS). L'instrument comprend également des détecteurs doubles, permettant l'imagerie simultanée et la mesure des caractéristiques. Ce puissant microscope électronique a une résolution maximale de 15nm, permettant une imagerie précise à l'échelle nanométrique. Avec le mode ELV, ce modèle peut capturer des images d'objets de grande surface sans évacuation. En outre, MATÉRIAUX APPLIQUÉS Opal 7830 offre un équipement d'imagerie à double faisceau, qui permet à l'utilisateur de déplacer un faisceau d'électrons focalisés sur toute la surface de l'échantillon. Ceci permet une imagerie à haute sensibilité, révélant des détails avec un faible rapport signal sur bruit (S/N). Le système de réduction du bruit vibrationnel assure une imagerie à faible bruit, de sorte que l'échantillon peut être examiné en haute résolution sans sacrifier la qualité de l'imagerie. Le SEM est également équipé d'une large gamme de capacités d'automatisation, y compris un correcteur de focalisation automatisé, une unité d'alignement optique et un contrôle automatisé des étages. Ces caractéristiques permettent à l'utilisateur de contrôler avec précision les caractéristiques de l'échantillon microscopique, telles que la taille et l'emplacement des caractéristiques. En outre, cette machine dispose d'un progiciel intégré qui permet l'analyse des données respectives acquises auprès du SEM. Dans l'ensemble, MATÉRIAUX APPLIQUÉS Opal 7830 Scanning Electron Microscope est un choix idéal pour l'analyse complexe des défaillances, la recherche sur les matériaux et les applications de microscopie. Le puissant étage d'échantillonnage motorisé 5 axes de l'instrument, les capacités d'imagerie sous vide et l'imagerie à double faisceau en font un outil d'imagerie rapide et précis.