Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS Opal 7830 #9238602 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS Opal 7830 Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil d'analyse puissant et polyvalent utilisé pour fournir des images détaillées et tridimensionnelles de structures internes d'un large éventail de matériaux. Il offre des caractéristiques inégalées pour analyser et caractériser une variété de matériaux et de procédés. Le SEM comprend un canon à électrons à émission de champ monochromé intégré (FEG) qui fournit des courants de faisceau élevés et une propagation thermique minimale, permettant une imagerie à la plus haute résolution à la tension d'accélération du faisceau d'électrons la plus basse. Avec ses tailles variables, le 7830 SEM offre une profondeur de champ variable, une résolution variable et une couverture de surface d'échantillon variable. Il est également équipé d'un stigmate pour corriger l'aberration du condenseur de faisceau, le distinguant des systèmes SEM comparables. Le dispositif est équipé d'un canon à électrons intégré, offrant une luminosité élevée et un faisceau stable en angle. Cela permet une résolution d'image exceptionnellement élevée, et en tirant parti d'une longue durée de vie du GIE, les utilisateurs peuvent enregistrer 99 secondes de temps de balayage long pour produire des signaux ESD simultanés. Avec un design à double optique spécialement conçu, le 7830 produit une image avec beaucoup plus de contraste et de clarté aux microscopes électroniques à balayage traditionnels (SEM). Le 7830 SEM a la capacité d'atteindre une résolution spatiale beaucoup plus élevée de 0.5nm à 6.0 kV, ce qui le rend idéal pour les applications où des performances ultra-élevées sont souhaitées. Avec son système automatisé de transfert de spécimens, les utilisateurs ont la capacité de changer rapidement les spécimens et d'optimiser le flux de travail. La 7830 a une longue durée de vie grâce à sa technologie de pointe EIG, et sa gamme de commande motorisée pour les différentes caractéristiques de l'appareil le rend simple et facile à utiliser. Le 7830 peut également être utilisé pour effectuer des analyses d'impuretés pour détecter la contamination de matériaux semi-conducteurs. Il a la capacité de détecter les particules et les défauts jusqu'à 0,1 µm de taille et peut effectuer à la fois la spectroscopie par rayons X dispersive d'énergie (EDS) et le balayage analytique (AS). La 7830 est équipée d'une gamme d'outils pour soutenir la recherche avancée et l'ingénierie pour une variété d'industries. Ces outils comprennent un système avancé d'acquisition d'images, l'analyse d'images en temps réel, la reconstruction d'images 3D, la quantification d'images et la génération automatisée de rapports. AMAT Opal 7830 SEM est un choix idéal pour ceux qui recherchent un SEM haut de gamme avec une polyvalence maximale et des performances exceptionnelles. Sa flexibilité inégalée et ses capacités techniques en font un choix idéal pour un large éventail d'applications de recherche et d'analyse de matériaux.