Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS OPAL 7830I #9226431 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS OPAL 7830I est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour l'imagerie et l'analyse de précision dans l'industrie des semi-conducteurs. Cet équipement fournit une résolution sous-nanométrique (avec < 4nm taille étroite) et une sensibilité accrue pour l'observation détaillée qui dépasse largement les technologies traditionnelles de balayage. Le système a une capacité d'analyse, avec des capacités intégrées de faisceau d'ions focalisés (FIB) et de lithographie de faisceau d'électrons (EBL). Il fournit à la fois la préparation des échantillons à l'échelle nanométrique et l'analyse visuelle des objets enfouis dans des échantillons denses. Cette unité présente une large gamme de caractéristiques, y compris un étage mécanique 3 axes de haute précision, un détecteur numérique à large plage dynamique et des systèmes optiques électroniques de pointe. Cette machine de pointe permet d'affiner l'énergie du faisceau et la taille du spot pour répondre aux besoins spécifiques d'un client en matière d'imagerie. AMAT OPAL 7830I dispose d'un canon à haute résolution d'émission de champ (FEG) qui fournit un faisceau d'électrons stable avec une meilleure résolution énergétique et taille de tache. Il a une commande intégrée de filtre d'énergie qui aide à sélectionner la bonne énergie pour l'imagerie. Les systèmes d'optique électronique ont l'astigmatisme réglable et l'aberration sphérique pour le réglage fin. L'outil optique électronique dispose d'un grand oculaire et de contrôles de contraste réglables pour maximiser la qualité de l'image. L'actif a intégré des composants matériels, logiciels et micrologiciels, qui permettent tous une stabilité et des performances optimales. Le modèle dispose d'un étage d'échantillonnage rapide de haute précision et d'une caméra CCD numérique, permettant une observation précise au niveau du sous-nanomètre. De plus, le FIB dispose d'un générateur d'ondes spécialement conçu pour permettre le dépôt et la gravure in situ. La large gamme dynamique de détecteurs CCD offre une sensibilité et un contraste inégalés. L'imagerie est ainsi améliorée par rapport aux systèmes d'imagerie antérieurs. LES MATÉRIAUX APPLIQUÉS 7830I peuvent être facilement combinés avec des systèmes CAO et une manipulation robotique automatisée des échantillons, ce qui permet d'obtenir des résultats à haut débit et reproductibles. L'équipement dispose de fonctionnalités automatisées qui réduisent le temps d'installation et fournissent une précision améliorée. La technologie de script embarquée permet aux clients de personnaliser leurs tests et d'augmenter la vitesse des processus de travail. Enfin, le logiciel permet l'intégration à d'autres applications d'imagerie telles que la diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD) et les rayons X dispersifs d'énergie (EDS). Ces caractéristiques permettent aux MATÉRIAUX APPLIQUÉS OPAL 7830I de fournir des capacités d'imagerie haute résolution tout en conservant la fiabilité et la précision requises par l'industrie des semi-conducteurs. C'est le microscope électronique à balayage le plus avancé du marché actuel, offrant une imagerie et une analyse supérieures pour les projets industriels les plus exigeants.