Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS OPAL 7830I #9256868 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS Opal 7830i Scanning Electron Microscope (SEM) est un puissant outil de recherche à haute résolution utilisé pour mieux comprendre la microstructure et la composition des matériaux, ce qui le rend adapté à une gamme de disciplines scientifiques telles que les matériaux et la recherche photonique avancée, la recherche médicale et la technologie des procédés semi-conducteurs. AMAT Opal 7830i est un SEM d'émission de champ, c'est-à-dire qu'il possède un émetteur de champ froid comme source d'électrons. Ce type d'émetteur a le plus haut éclat et directivity que les sources de Rayons X, qui signifie que le MATÉRIEL APPLIQUÉ 7830I peut produire des images extrêmement à haute résolution. Le SEM est équipé d'une gamme de détecteurs, ce qui lui permet de détecter des électrons rétrodiffusés, des électrons secondaires, de prendre des données de spectroscopie à rayons X dispersif (EDX) et de spectroscopie à rayons X dispersif (WDS) de longueur d'onde, ainsi que de générer des images d'électrons secondaires à haute résolution et de rétrodiffusion. La machine utilise une interface utilisateur à écran tactile qui est facile à utiliser et hautement personnalisable, et est livrée avec une gamme de processus automatisés pour rationaliser la configuration expérimentale et l'analyse. Par exemple, le système d'imagerie automatisé permet de réaliser rapidement et avec précision des analyses complexes d'échantillons en automatisant le positionnement de l'échantillon dans le champ image, le chargement de l'échantillonneur et l'acquisition d'images. MATÉRIAUX APPLIQUÉS Opal 7830i dispose également d'une chambre à vide avec un système de turbo-pompage automatisé pour minimiser le temps nécessaire pour stabiliser la pression désirée. De plus, la stabilité élevée de la colonne et la précision de l'étage permettent de résoudre la surface de l'échantillon à la fois dans l'imagerie centrale et dans les cartes topographiques à haute résolution. Opal 7830i est équipé d'une gamme de fonctionnalités supplémentaires pour assurer une imagerie et une caractérisation de haute qualité. Les systèmes de spectrométrie EDX et WDS automatisés facilitent l'analyse de la composition élémentaire, tandis que les techniques automatisées de correction des écarts d'énergie et de compensation de phase éliminent toute instabilité due à l'énergie ou à la dérive des échantillons. Enfin, l'algorithme de détection de bord permet de révéler des détails fins au sein d'une image. Dans l'ensemble, AMAT 7830I Scanning Electron Microscope est un outil puissant et polyvalent qui fournit une gamme de fonctionnalités utiles et de capacités d'imagerie haute résolution. Son large éventail de processus automatisés et son interface intuitive avec écran tactile rendent le SEM idéal pour les scientifiques et les chercheurs qui ont besoin de collecter des images haute résolution et même des données élémentaires de leurs échantillons.