Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS / OPAL 7830Si #293772015 à vendre en France

ID: 293772015
Style Vintage: 1998
Scanning Electron Microscopes (SEM) 1998 vintage.
AMAT, également connu sous le nom d'OPAL, est un fournisseur leader d'équipements, de services et de logiciels pour l'industrie des semi-conducteurs. L'un de ses produits phares est le microscope électronique à balayage AMAT/APPLIED MATERIALS/OPAL 7830Si (SEM), conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse des matériaux et dispositifs semi-conducteurs. AMAT 7830Si est un outil polyvalent et puissant qui offre des capacités d'imagerie avancées, une analyse élémentaire précise et une interface conviviale pour un flux de travail efficace. OPAL 7830Si intègre une technologie de pointe pour fournir des performances supérieures en imagerie et caractérisation des échantillons semi-conducteurs. Il dispose d'un faisceau d'électrons haute résolution avec des tensions d'accélération variables allant de 0,5 kV à 30 kV, permettant aux utilisateurs d'optimiser les conditions d'imagerie pour différents types d'échantillons et de tâches analytiques. L'équipement est équipé de détecteurs avancés, tels que des détecteurs d'électrons secondaires (SE) et d'électrons rétrodiffusés (ESB), pour recueillir des images avec un contraste et une résolution exceptionnels. Un des points forts de APPLIED MATERIALS 7830Si est sa capacité à fournir une analyse élémentaire détaillée des matériaux semi-conducteurs. Le système est équipé de capacités de spectroscopie des rayons X (EDS) dispersives d'énergie, qui permettent de détecter et de quantifier les éléments présents dans l'échantillon. Le détecteur EDS peut être utilisé pour effectuer une cartographie élémentaire, identifier les impuretés et mesurer la composition des structures semi-conductrices avec une grande précision. Cette fonction est essentielle pour le contrôle de la qualité, la surveillance des processus et l'analyse des défaillances dans la fabrication de semi-conducteurs. En plus de ses capacités d'imagerie et d'analyse, 7830Si offre une gamme de fonctionnalités avancées pour améliorer l'expérience utilisateur et la productivité. L'unité est équipée d'une interface logicielle intuitive qui offre un accès facile aux modes d'imagerie, aux outils d'analyse et aux fonctions de traitement de données. Les utilisateurs peuvent naviguer rapidement à travers divers paramètres d'imagerie, mettre en place des routines automatisées pour les tâches répétitives, et générer des rapports complets avec des résultats détaillés. AMAT/APPLIED MATERIALS/OPAL 7830Si est conçu pour répondre aux exigences strictes de la recherche sur les semi-conducteurs et des environnements de production. Il est équipé d'une machine électronique stable et fiable qui assure des performances constantes sur de longues périodes de fonctionnement. L'outil dispose également de fonctions automatisées pour la manipulation, la focalisation et l'étalonnage des échantillons, qui simplifient le flux de travail et minimisent les erreurs humaines pendant l'expérimentation. AMAT 7830Si est un outil polyvalent qui peut être utilisé pour un large éventail d'applications dans l'industrie des semi-conducteurs. Il est idéal pour l'imagerie et l'analyse des dispositifs semi-conducteurs, des matériaux, des structures d'emballage et des défauts de processus. Que ce soit pour la recherche et le développement, l'assurance de la qualité ou l'analyse des défaillances, OPAL 7830Si fournit des informations précieuses sur les propriétés physiques et chimiques des échantillons de semi-conducteurs. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage APPLIED MATERIALS 7830Si est un instrument de pointe qui offre des capacités d'imagerie et d'analyse exceptionnelles pour les applications semi-conductrices. Avec ses fonctionnalités avancées, son interface conviviale et ses performances robustes, 7830Si est un outil précieux pour les professionnels des semi-conducteurs qui cherchent à obtenir des résultats de haute qualité et à stimuler l'innovation dans l'industrie.
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