Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS / OPAL 7830Si #9302073 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS/OPAL 7830Si est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé à diverses fins. Il s'agit d'un outil à haute résolution et à haut débit utilisé pour l'imagerie et l'analyse en sciences des matériaux, en biologie et en recherche physique. AMAT 7830Si offre une gamme de fonctionnalités qui permettent aux utilisateurs d'observer et d'analyser des échantillons à haute résolution, même jusqu'à des niveaux inférieurs au micron. Il dispose d'une petite taille et d'une distance de travail réglable, ainsi que d'une plage de grossissement élevée allant jusqu'à 230,000X. L'instrument est également équipé d'un détecteur d'électrons secondaire offrant une excellente résolution d'image et de contraste. En outre, OPAL 7830Si dispose d'une variété de fonctionnalités d'automatisation telles que la mise au point automatique, la stigmatisation automatique et une fonction d'alignement des étapes, permettant aux utilisateurs de gagner du temps et d'améliorer leurs résultats analytiques. Il comprend également une étape de basculement pour permettre un balayage horizontal ou vertical, et une chambre à vide qui permet d'étudier des échantillons dans leur milieu natal. En outre, l'instrument offre une caméra numérique à haute sensibilité pour le stockage et l'archivage d'images, ainsi qu'un système automatisé pour calibrer l'optique électronique du SEM et analyser le système d'imagerie. Il dispose également d'une interface graphique pour un fonctionnement facile, ainsi que d'une large gamme de logiciels pour l'analyse de données, la représentation graphique et la reconstruction 3D. Dans l'ensemble, APPLIED MATERIALS 7830Si est un excellent choix lorsque la précision, la répétabilité et la haute résolution sont essentielles. Il combine une large gamme de fonctionnalités et des performances exceptionnelles, permettant aux utilisateurs d'effectuer une variété de tâches avec des résultats précis et fiables. L'unité est bien adaptée pour l'imagerie et l'analyse d'un large éventail d'échantillons, ainsi que la surveillance de divers processus et défauts.