Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS VeritySEM #9093773 à vendre en France

MATÉRIAUX D'AMAT/APPLIQUÉS Le VRSEM est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) qui combine des capacités avancées pour fournir une imagerie haute résolution, la caractérisation des matériaux et l'analyse en panne des structures les plus critiques des dispositifs semi-conducteurs. Grâce à son optique électronique de pointe et à sa technologie sous vide ultra-élevé, AMAT VercentreSEM permet la production d'images exceptionnelles de haute qualité pour la caractérisation des matériaux et l'analyse des défaillances. Pour la caractérisation des matériaux et l'analyse des défaillances, APPLIED MATERIALS VercentreSEM a été conçu pour offrir une résolution spatiale et une productivité supérieures. Il utilise une colonne électronique très efficace avec un canon à électrons électrostatiques dans le champ de lentille, qui assure une profondeur de champ plus grande et une imagerie stable à basse tension. L'optique dispose également d'une optique électronique avancée et d'un filtre d'énergie qui permet une cohérence supérieure du faisceau. Cela rend l'instrument idéal pour fournir une imagerie haute fidélité et haute résolution nécessaire à l'analyse avancée des défaillances et à la caractérisation des matériaux. Il est également équipé d'une gamme d'outils et d'accessoires avancés pour l'analyse avancée. L'équipement comprend un module de mesure de forme intégré pour les mesures dimensionnelles à l'échelle nanométrique, des étages cryogéniques transportables pour l'imagerie à très basse température et un module EDS (spectroscopie dispersive d'énergie). Cela permet au système de mesurer la composition et l'épaisseur des différentes couches, ainsi qu'une gamme d'autres paramètres. MATÉRIAUX D'AMAT/APPLIQUÉS Le système VersSEM offre également des fonctionnalités avancées pour la détection et la mesure automatisées. Des outils d'automatisation automatisés avancés permettent aux utilisateurs d'identifier rapidement et avec précision les défauts des dispositifs à semi-conducteur. L'unité comprend également une machine d'imagerie thermique automatisée, conçue pour rationaliser davantage les projets d'analyse des défaillances. AMAT VercentreSEM dispose d'une interface utilisateur intuitive, ce qui le rend facile à utiliser. L'outil offre également une gamme d'outils de gestion des données pour surveiller et suivre les projets d'analyse des défaillances. En outre, le logiciel puissant fournit des algorithmes automatisés de traitement d'image pour un maximum de résultats. Dans l'ensemble, MATÉRIAUX APPLIQUÉS Le Ver SEM est un microscope électronique à balayage puissant et avancé pour la caractérisation des matériaux et l'analyse des défaillances. Il combine une puissante optique électronique, des outils d'imagerie et d'analyse avancés et une interface utilisateur complète pour une solution économique et simplifiée pour l'analyse des dispositifs semi-conducteurs. Grâce à ses performances et à sa précision supérieures, le système VersantéSEM offre une excellente solution pour l'imagerie haute résolution et l'analyse des défaillances.