Occasion AMRAY 1830 #293657412 à vendre en France

ID: 293657412
Scanning Electron Microscope (SEM).
Le microscope électronique à balayage AMRAY 1830 (SEM) est un outil puissant pour l'imagerie et l'analyse à haute résolution d'échantillons nanométriques. Il offre un grand champ de vision et une résolution maximale de 1,8 nm. Ce microscope est utilisé pour une grande variété d'applications, y compris l'imagerie de surface, le profilage de profondeur d'échantillon, l'analyse particules/surface et l'analyse chimique. 1830 est équipé d'un détecteur d'électrons secondaire à haute résolution qui donne une résolution spatiale maximale de 1,8 nm en mode circulaire et 0,9 nm en mode linéaire. Il dispose également d'un grand champ de vision pouvant atteindre 500 mm, ce qui le rend idéal pour étudier de grandes zones d'échantillonnage. Le SEM est également capable d'imiter un large éventail de types d'échantillons, y compris les monocristaux, les semi-conducteurs, les matériaux diélectriques, les isolants, les plastiques et les métaux. AMRAY 1830 utilise le traitement d'imagerie numérique pour réduire le bruit inhérent à l'imagerie SEM, permettant une meilleure résolution et un meilleur contraste par rapport aux autres dispositifs d'imagerie électronique. En outre, le microscope est conçu pour des performances de haute stabilité, avec un système de contrôle informatisé qui élimine le besoin d'alignement de balayage manuel. 1830 est équipé d'une variété de modes d'imagerie, y compris les électrons secondaires (SE), les électrons rétrodiffuseurs (ESB) et les électrons secondaires différentiels (SE). Le mode SE est utilisé pour les études de topographie de surface et d'échantillon, tandis que le mode ESB peut être utilisé pour identifier différents matériaux dans un échantillon. Le mode DSE permet l'imagerie de contraste de surface pour produire un meilleur contraste sur les surfaces avec des variations chimiques ou topographiques. AMRAY 1830 est également équipé d'un détecteur de rayons X pour l'analyse des rayons X par voie électronique, y compris l'analyse élémentaire, l'analyse de phase et l'analyse des liaisons chimiques. Le détecteur de rayons X peut être utilisé pour vérifier et identifier la composition d'un échantillon, ce qui permet une analyse plus précise de l'échantillon. Dans l'ensemble, 1830 est un puissant microscope électronique à balayage (SEM) qui fournit l'imagerie haute résolution et l'analyse d'échantillons ainsi que l'analyse de phase et élémentaire. Avec son vaste champ de vision, sa haute résolution et son large éventail d'applications, il permet une variété d'applications de recherche et d'étude dans le domaine des matériaux nanométriques.
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