Occasion AMRAY 3200C #293659826 à vendre en France

ID: 293659826
Variable Pressure Scanning Electron Microscopes (VP-SEM) Large chamber: Up to 8" sample Low vacuum chamber pressure: Up to 4 Torr (25 mTorr increment) Image capture: 1280 x 960 4Pi, 1200 x 960 Everhart-Thorley secondary electron detector Robinson backscatter detector (Retractable) Nitrogen or Argon gas for venting the chamber Dry/Filtered 60 psi air to power vacuum valve Energy Dispersive X-Ray Spectrometer (EDS): 4Pi Analysis EDAX EDS Detector with liquid nitrogen dewar (2) Roughing pumps: EDWARDS RV8 Rotary vane vacuum pump ALCATEL / ADIXEN Pascal 2010 SDX Rotary vane vacuum pump Resolution: High vacuum 4 nm at 30 kV Low vacuum 6 nm at 30 kV Travel stage: X and Y Axis: Motorized 100 mm, joystick control Z-Axis: Manual 50 mm, 360° rotation and tilt -10°C/+90°C Operating system: Windows 7 Pro PC Power supply: 120 VAC.
AMRAY 3200C est un microscope électronique à balayage (SEM) équipé de fonctionnalités modernes qui en font un outil d'habilitation idéal pour la recherche et le développement. Il est capable d'acquérir des images analytiques à haute résolution, à fort grossissement et à analyse tridimensionnelle d'un large éventail de types d'échantillons. Le SEM est conçu pour une gamme d'applications scientifiques et industrielles allant de l'analyse de défaillance des semi-conducteurs à la caractérisation céramique en passant par la corrosion aqueuse. Les principaux composants de 3200C comprennent la chambre de préparation des échantillons, la chambre principale, le portique, les détecteurs et le système de traitement des images. La chambre principale abrite l'optique électronique pour la génération du faisceau, l'ensemble détecteur pour la collecte d'images, et l'étage pour la mise en scène et l'alignement des échantillons. Le portique contient le système de lentilles et des composants mécaniques pour focaliser et piloter avec précision le faisceau d'électrons. L'ensemble détecteur fournit un temps d'acquisition d'image rapide et des résultats de haute résolution. AMRAY 3200C comprend une large gamme de fonctionnalités telles que le courant à faisceau variable, la tension sélectionnable, la commande de basculement numérique, le positionnement de précision et plusieurs modes d'acquisition d'images. Le courant du faisceau est réglable de 1mA à 40mA tandis que la tension est réglable jusqu'à 30 kV. Les réglages d'inclinaison sont commandés par ordinateur et permettent un alignement précis pour la mise au point et l'agrandissement. Le positionnement précis de l'étage permet des résultats reproductibles. Les modes d'acquisition d'images multiples comprennent standard, haute résolution et ultra haute résolution. 3200C comprend également des techniques d'imagerie avancées telles que l'imagerie par électrons diffusés en arrière (ESB), qui permet l'imagerie tridimensionnelle de surface. La technique d'imagerie ESB utilise la plus grande profondeur de champ pour créer des images de haute qualité avec un excellent contraste pour les matériaux avec une large gamme de propriétés. Le système de traitement d'image comprend un algorithme automatisé de reconnaissance des caractéristiques, qui permet une analyse automatisée des motifs des matériaux. AMRAY 3200C est un microscope électronique à balayage avancé de nouvelle génération. Il offre un large éventail de fonctionnalités pour l'imagerie précise d'échantillons à haute résolution et grossissement, les techniques d'imagerie avancées, et l'analyse automatisée d'images. Avec une gamme complète de fonctionnalités et de capacités, 3200C est idéal pour une variété d'applications de recherche et développement.
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